應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),地礦,能源 |
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
介質(zhì)損耗測試儀/高壓電力測試設(shè)備采用典型的西林電橋線路。C4橋臂在基本量程時(shí),與R4橋臂并聯(lián), 測量數(shù)值為正損耗因數(shù)。結(jié)構(gòu)采用了雙層屏蔽。并通過輔橋的平衡,消除寄生參數(shù)對(duì)電橋平衡的影響。輔橋由電位自動(dòng)電位與內(nèi)層屏蔽(S) 組成。自動(dòng)由電子元器件組成。它在橋頂B處取一輸入電壓,通過放大后,在內(nèi)屏蔽(S) 產(chǎn)生-個(gè)與B電位相等的電壓。當(dāng)電橋在平衡時(shí),A,B,S三點(diǎn)電位必然相等,從而達(dá)到自動(dòng)跟蹤的目的。
1 | 使用條件 | -15℃∽40℃ | RH<80% | ||
2 | 抗干擾原理 | 變頻法 | |||
3 | 電 源 | AC 220V±10% | 允許發(fā)電機(jī) | ||
4 | 高壓輸出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
精 度 | 2% | ||||
最大電流 | 200mA | ||||
容 量 | 2000VA | ||||
5 | 自激電源 | AC 0V∽50V/15A | 50HZ、60HZ單頻 45HZ/55HZ 47.5HZ/52.5HZ 55HZ/65HZ 57.5HZ/62.5HZ 自動(dòng)雙變頻 | ||
6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.001pF | ||
7 | 精 度 | △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%) | |||
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF) | |||||
8 | 測量范圍 | tgδ | 無限制 | ||
C x | 15pF < Cx < 300nF | ||||
10KV | Cx < 40 nF | ||||
5KV | Cx < 150 nF |
介質(zhì)損耗測試儀/高壓電力測試設(shè)備操作規(guī)程:
1、本儀器必須有專人負(fù)責(zé)保管,使用,非專職操作者應(yīng)在使用前了解和熟悉本說明書,以免造成不必要的損失和事故。
2、每次使用前應(yīng)仔細(xì)檢查接地線是否完好,確保以后方可通電使用。
3、接通電源前應(yīng)將靈敏度開關(guān)調(diào)到低位置。
4、測量試品前應(yīng)先對(duì)試品進(jìn)行高壓試驗(yàn),在電橋工作電壓下無噪聲,電離等現(xiàn)象出現(xiàn),然后才能進(jìn)行測試(若試品己做過高壓試驗(yàn),該項(xiàng)可不必每次測量都做)。
5、對(duì)試品施加高壓時(shí)緩慢升高,不可以加突變電壓。
6、測試時(shí)操作人員必須集中思想,工作前做好一切準(zhǔn)備工作,測試地點(diǎn)周圍應(yīng)有明顯的標(biāo)記或金屬屏蔽圍成高壓危險(xiǎn)區(qū),以防止非操作人員闖入。
7、在測量過程中,如有放電管發(fā)光時(shí),則必須及時(shí)切斷電源,仔細(xì)檢查接線及試品都無擊穿,待檢查排除故障后,再進(jìn)行高壓測量工作。
高壓電橋?yàn)閷?shí)驗(yàn)室用高精密高壓電橋,可與各類高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器配合組成高壓電容電橋,適宜于在高電壓下測量電力電纜、高壓套管、電力電容器、互感器等高壓電力設(shè)備的電容量及損耗角正切值tgδ,以及各種固體或液體絕緣材料的介電常數(shù)( ε )及損失角正切值,也可測量高壓變壓器或電壓互感器的比差和角差。電橋可外接電流互感器以擴(kuò)大量程,測量大電容時(shí)本電橋?yàn)樗亩藴y量具有引線補(bǔ)償裝置,消除接線電阻引起的附加誤差。本電橋還可測量電抗器的電感量及Q值。量程擴(kuò)展器(供選購)能使主橋體的電容比從1000: 1擴(kuò) 大到106: 1。
西林電橋測試儀主要解決在變電站現(xiàn)場測量電容器的電容值時(shí)存在的問題,如現(xiàn)場測量電容器需拆除連接線,不僅工作量大而且易損壞電容器:電壓表輸出電壓而導(dǎo)致故障檢出率低。
在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。