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詳細(xì)摘要： 日本電磁測器NDK特斯拉計GP-300teslamometer（高斯計）中使用的傳感器有兩種，一種使用霍爾元件，另一種使用搜索線圈，霍爾元件用于測量磁體的磁化量...

詳細(xì)摘要： 日本電磁測器NDK特斯拉計TGX-1000teslamometer（高斯計）中使用的傳感器有兩種，一種使用霍爾元件，另一種使用搜索線圈，霍爾元件用于測量磁體的磁...

詳細(xì)摘要： 日本imt實驗樣品拋光機IM-P2IM-P2是專yong于手部拋光的拋光設(shè)備。通過改造樣品旋轉(zhuǎn)機也可以實現(xiàn)自動化。桌子的高度使更換光盤和手工打磨變得容易。配備即...

詳細(xì)摘要： 日本山本yamamoto大米實驗精米機VP-32/VP-32T以東北粳稻谷為研究對象, 探討了篩孔大小和碾磨時間對稻谷出米率大小的影響, 為統(tǒng)一稻谷出米率的檢驗...

詳細(xì)摘要： 日本山本yamamoto實驗精米機VP-32/VP-32T以東北粳稻谷為研究對象, 探討了篩孔大小和碾磨時間對稻谷出米率大小的影響, 為統(tǒng)一稻谷出米率的檢驗方法...

詳細(xì)摘要： 日本大竹otake檢驗礱谷機FC2R/FC2K檢驗用礱谷機是制備稻谷出糙率樣品的專用設(shè)備,研制脫殼效率高、分離效率高、碎米率低、不損傷糙米皮層、性能穩(wěn)定、操作維...

詳細(xì)摘要： 實驗礱谷機FC2R國內(nèi)現(xiàn)貨整精米率是判定稻谷質(zhì)量的一項重要指標(biāo),也是衡量稻谷質(zhì)量好壞的重要尺度之一,準(zhǔn)確、真實的檢測數(shù)據(jù),對于提高糧食收購質(zhì)量,為稻谷加工起到了...

詳細(xì)摘要： 日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型超高電阻機器分揀機、激光和切割機型修邊機

詳細(xì)摘要： 日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152E自動測量超低電阻的理想之選非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。取消熱電動勢效應(yīng)的測量脈沖測量電流，減少測量端子自熱...

詳細(xì)摘要： 日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D自動測量超低電阻的理想之選非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。取消熱電動勢效應(yīng)的測量脈沖測量電流，減少測量端子自熱...

詳細(xì)摘要： 日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E內(nèi)置換檔電磁閥電源：DC12V（2A）、24V（1A）/脈沖輸出（2A）內(nèi)置無缺陷計數(shù)器

詳細(xì)摘要： 日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L超小尺寸芯片 （0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...）兼容精密電阻！適用于 B、C、D、F、G、J、K ...

詳細(xì)摘要： 日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

詳細(xì)摘要： 日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162LD、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機0201、03015尺寸超小型芯片兼容（...

詳細(xì)摘要： 日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

詳細(xì)摘要： 日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

詳細(xì)摘要： 日本寺田抹茶低溫粉碎機FPS-1食品研磨機。它結(jié)構(gòu)緊湊，便攜，在任何地方都非常出色。使用金屬磨機，按照與石材磨機相同的原理，將干燥的原料壓碎。通過使用調(diào)節(jié)手柄改...

詳細(xì)摘要： 日本寺田茶葉低溫粉碎機FPS-1食品研磨機。它結(jié)構(gòu)緊湊，便攜，在任何地方都非常出色。使用金屬磨機，按照與石材磨機相同的原理，將干燥的原料壓碎。通過使用調(diào)節(jié)手柄改...

詳細(xì)摘要： 日本smt實驗高壓均質(zhì)機LAB1000/LAB2000專為乳制品，食品化學(xué)，制藥，化妝品和生物技術(shù)領(lǐng)域的研究機構(gòu)開發(fā)的緊湊型多功能實驗室機器。提供兩種類型的實驗...

詳細(xì)摘要： 超薄膜用動態(tài)粘彈性測量儀DVA-225尺寸范圍廣，從超薄膜到厚片可以用同一樣品測量的彈性模量為4位或更多