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用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410
閱讀：1746 發(fā)布時間：2021-1-15用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410
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高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進行現(xiàn)場工作，并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反射率100％）。
無需預熱。對于需要高表面光澤度的產品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復印機的反光器和硅片）的質量控制而言，它是理想的選擇。
特征
- 甚至在金屬等高光澤區(qū)域
也可以量化“模糊度” IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產品。測量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。 - 緊湊輕巧的設計，易于現(xiàn)場測量
重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產現(xiàn)場以方便測量。
由于將LED用作光源，因此無需擔心光源的壽命。 - 可以通過
在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
IG-410不僅可以測量高光澤度金屬，還可以測量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。
應用實例
- 用于檢查金屬產品表面狀況的光潔度
- 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀
- 用于檢查電鍍產品的外觀
- 用于檢查硅片的表面光潔度
*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。
規(guī)范
光學系統(tǒng) | 入射角60°-接收角60° |
測量面積 | 3 x 6毫米橢圓 |
光源 | LED（波長890nm） |
受光部 | SPD（硅光電二極管） |
測量范圍 | 100范圍： |
重復性 | 滿量程的±1％ |
電源供應 | AA干電池x 4 |
電池壽命 | 200小時以上（使用堿性干電池） |
工作溫度極限 | 10-40℃ |
尺寸 | 機身：75W x 34D x 140H mm |
大眾 | 約350g（帶內置電池） |
其他功能 | 自動校準，自動關機 |
配件 | 用于100和1000量程的校準標準板 |