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產(chǎn)品分類 品牌分類

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

日置LCR測(cè)試儀IM3536（主機(jī)不標(biāo)配測(cè)試治具。請(qǐng)?jiān)谶x件中選擇測(cè)試治具和探頭。）
DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率
● 測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間：1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中

詳細(xì)介紹

LCR測(cè)試儀IM3536

DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率

● 測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間：1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中

產(chǎn)品概述

日置LCR測(cè)試儀IM3536

電解電容器的電容測(cè)量：LCR測(cè)試儀IM3536

根據(jù)JIS標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電解電容器，電解電容的電容值在不同測(cè)試頻率下容值差異較大，因此需要根據(jù)實(shí)際回路的工作頻率來確認(rèn)電容值。
LCR測(cè)試儀IM3536寬測(cè)試頻率范圍DC,4Hz~8MHz，適用于以上產(chǎn)品特性評(píng)估。

陶瓷電容器的電容測(cè)量：LCR測(cè)試儀IM3536

陶瓷電容器可分為，隨電壓變化的高介電常數(shù)型和溫度補(bǔ)償型。JIS標(biāo)準(zhǔn)針對(duì)兩種陶瓷電容特性有不同的測(cè)試要求。使用LCR測(cè)試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz，內(nèi)置電壓范圍10mV~5V，非常適合用于以上兩種不同要求的電容測(cè)試。

電感器（線圈）的電感測(cè)量：LCR測(cè)試儀IM3536

電感器（線圈）所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現(xiàn)象稱為自諧振。將產(chǎn)生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評(píng)估線圈時(shí)請(qǐng)?jiān)诒茸灾C振頻率更低的頻率下測(cè)量L和Q。
LCR測(cè)試儀IM3536的測(cè)量頻率很廣，可以設(shè)置為DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改變測(cè)試頻率進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)量電感器的頻率特性：LCR測(cè)試儀IM3536

LCR測(cè)試儀IM3536的測(cè)量頻率較廣，可以設(shè)置為DC、4 Hz～8 MHz，非常適合于評(píng)估連續(xù)改變頻率的測(cè)量。在計(jì)算機(jī)中安裝附件LCR采用應(yīng)用軟件（CD-R），并通過接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以進(jìn)行掃頻功能，自動(dòng)測(cè)量出的測(cè)量數(shù)值能夠以Excel或CSV格式進(jìn)行保存。

寬廣范圍的測(cè)量條件下，非常適用于進(jìn)行研發(fā)和評(píng)估實(shí)際使用條件的LCR測(cè)試儀

寬頻率范圍的LCR非常適用于研發(fā)和評(píng)估不同工作頻率范圍下壓電元器件和線圈等的諧振頻率。推薦用于評(píng)估壓電元件和線圈的共振頻率。若使用應(yīng)用軟件※則能夠簡(jiǎn)單的對(duì)頻率、電壓和電流進(jìn)行掃描和測(cè)量。
可變頻率：DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可變：10 mV?5 V（V模式/CV模式）
電流可變：10 μA?100 mA（CC模式）
※能夠使用計(jì)算機(jī)設(shè)置掃頻（或電壓、電流），并將測(cè)量數(shù)據(jù)以CSV或Excel格式保存。應(yīng)用軟件請(qǐng)使用標(biāo)配的CD進(jìn)行安裝，或從HP中下載。

連續(xù)測(cè)量功能：希望以1kHz檢查電源電感的L-Q，還想檢查直流電阻（Rdc）。這時(shí)，1臺(tái)IM3536就可以在2種測(cè)試要求下進(jìn)行連續(xù)高速測(cè)試。

LCR測(cè)試儀在自動(dòng)化產(chǎn)線中測(cè)試可靠：測(cè)試線補(bǔ)償

線長(zhǎng)補(bǔ)償設(shè)置可設(shè)置為：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測(cè)試線延長(zhǎng)時(shí)也能保證精度。

LCR測(cè)試儀在自動(dòng)化產(chǎn)線中測(cè)試可靠：接觸檢查功能

4端子測(cè)量時(shí)，預(yù)先設(shè)置判斷測(cè)試端與被測(cè)物的接觸狀態(tài)。測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，并在超過所設(shè)閾值時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量模式	LCR（單一條件下測(cè)量），連續(xù)測(cè)量（保存條件下連續(xù)測(cè)量）
測(cè)量參數(shù)	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測(cè)量量程	100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數(shù)由Z規(guī)定）
顯示范圍	Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度	Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
測(cè)量頻率	4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn))
測(cè)量信號(hào)電平	[V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流電阻測(cè)量]: 1 V固定
DC偏壓	發(fā)生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時(shí)0 ~1 V)
輸出阻抗	通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
功能	比較器、BIN測(cè)量（2個(gè)項(xiàng)目10種分類），觸發(fā)功能、開路·短路補(bǔ)償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲(chǔ)功能
接口	EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量	330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件	電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應(yīng)用光盤）×1