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在產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)流程中，為了確保產(chǎn)品的出廠性能，需要驗(yàn)證產(chǎn)品在惡劣環(huán)境中的狀態(tài)或正常工作的條件極限。這就通常要測(cè)試溫度在內(nèi)的多項(xiàng)參數(shù)，數(shù)采是該類測(cè)試常用的儀器之一。

測(cè)試方案推薦

  WatlowF4T控制器+DAQ 6510

圖|整體流程工藝示意圖

溫度控制器WatlowF4T：管理測(cè)試環(huán)境條件（如上圖所示）；記錄并顯示編程特性執(zhí)行期間的環(huán)境條件；提供一系列SCPI命令以便對(duì)溫度艙進(jìn)行遙控。

吉時(shí)利數(shù)采DAQ6510：監(jiān)測(cè)環(huán)境， 直到達(dá)到所需的測(cè)試條件， 然后執(zhí)行掃描并采集數(shù)據(jù)。

測(cè)試方案優(yōu)勢(shì)

1.簡(jiǎn)化操作

圖|測(cè)試連接示意圖

通過WatlowF4T控制器+DAQ 6510的測(cè)試方案，可以方便地使用同一設(shè)備，來(lái)監(jiān)測(cè)測(cè)試艙，并獲得讀數(shù)。憑借吉時(shí)利測(cè)試腳本處理器(TSP) 強(qiáng)大的腳本編制功能， 并采用標(biāo)準(zhǔn)以太網(wǎng)連接實(shí)現(xiàn)儀器通信，吉時(shí)利數(shù)采 DAQ 6510可以控制F4T溫度艙控制器。

2.提高效率

如果需要進(jìn)行多通道測(cè)量，可以用吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510配置相適應(yīng)的7700系列復(fù)用器掃描卡，一臺(tái)吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510能支持高達(dá)80通道容量的測(cè)試。

3.方便分析

吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510觸屏界面設(shè)計(jì)，不僅可以助力縮短儀器的設(shè)置時(shí)間，實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試情況，還能快速對(duì)多通道進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。