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產(chǎn)品簡介
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,電子 |
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詳細(xì)介紹
HEIDENHAIN光柵尺詳細(xì)信息:
| 產(chǎn)品特性：長度測量 | 是否進(jìn)口：否 | 產(chǎn)地：德國 |
| 品牌：Heidenhain海德漢 | 型號(hào)：LC 485 1020 5.0 | 訂貨號(hào)：689681-19 |
| 貨號(hào)：689681-19 | 尺寸：120*25*25 | 工作電源：3.6 V ... 14 V |
| 光源：讀數(shù)頭 | 加工定制：是 | 檢測距離：1020 mm |
| 介電強(qiáng)度：5 | 類型：EnDat 2.2 | 響應(yīng)時(shí)間：快就是了 |
| 重量：3kg | 規(guī)格：1件 | 是否跨境貨源：是 |
| 主要下游平臺(tái)：其他 | 主要銷售地區(qū)：歐洲、 北美、 東南亞、 東北亞、 中東 | 有可授權(quán)的自有品牌：否 |
Heidenhain光柵尺工作原理詳細(xì)介紹:
產(chǎn)品信息
品牌：HEIDENHAIN海德漢
型號(hào)：LC 485 1020 5.0
ID：689681-19
產(chǎn)地：德國
長度測量
封閉式光柵尺： 能有效防塵、防切屑和防飛濺的切削液，是用于機(jī)床的理想選擇。
敞開式光柵尺： 與讀數(shù)頭和光柵尺或鋼帶間沒有機(jī)械接觸。典型應(yīng)用包括：半導(dǎo)體工業(yè)的測量和生產(chǎn)設(shè)備、PCB電路板組裝機(jī) 、超精密機(jī)床、高精度機(jī)床、測量機(jī)和比較儀、測量顯微鏡和其它精密測量設(shè)備、直接驅(qū)動(dòng)。
增量式光柵尺： 決定當(dāng)前位置的方式是由原點(diǎn)開始數(shù)測量步距或細(xì)分電路的計(jì)數(shù)信號(hào)數(shù)量。海德漢的增量式光柵尺帶有參考點(diǎn)，開機(jī)時(shí)必須執(zhí)行參考點(diǎn)回零操作非常簡單、快捷。
式光柵尺： 無需執(zhí)行參考點(diǎn)回零操作就能直接提供當(dāng)前位置值。光柵尺的位置值通過EnDat接口或其它串行接口傳輸。
封閉式光柵尺
海德漢的封閉式光柵尺能有效防塵、防切屑和防飛濺的切削液，是用于機(jī)床的理想選擇。鋁質(zhì)外殼和密封軟條可以保護(hù)光柵尺、掃描單元和軌道免受灰塵、切屑和切削液的影響。掃描單元的運(yùn)動(dòng)軌道摩擦力很小，軌道內(nèi)置在光柵尺上。它通過一個(gè)連軸器與外部的安裝架連接，這個(gè)連軸器可以補(bǔ)償光柵尺和機(jī)器軌道之間不可避免的對正誤差。
封閉式光柵尺的結(jié)構(gòu)有標(biāo)準(zhǔn)光柵尺外殼適用于振動(dòng)頻率高且長距離測量長度，還有緊湊光柵尺外殼適用于安裝空間小的情況。
敞開式光柵尺
設(shè)計(jì)用于需要高精度測量的機(jī)床和系統(tǒng)，典型應(yīng)用包括：
半導(dǎo)體工業(yè)的測量和生產(chǎn)設(shè)備
PCB電路板組裝機(jī)
超精密機(jī)床
高精度機(jī)床
測量機(jī)和比較儀，測量顯微鏡和其它精密測量設(shè)備
直接驅(qū)動(dòng)
HEIDENHAIN光柵尺產(chǎn)品特點(diǎn)：
產(chǎn)品系 | 應(yīng)用 |
LIC | LIC敞開式直線光柵尺用于測量高速運(yùn)動(dòng)的行程達(dá)27 m內(nèi)的位置。其尺寸和安裝方式與LIDA 400相同。 |
LIP | LIP敞開式直線光柵尺的測量步距非常小、精度和重復(fù)精度非常高。掃描方式為干涉掃描，測量基準(zhǔn)為DIADUR相位光柵。 |
LIF | LIF敞開式直線光柵尺的測量基準(zhǔn)是SUPRADUR玻璃基體光柵，掃描方式為干涉掃描。特點(diǎn)是精度和重復(fù)精度高，安裝簡單，有限位開關(guān)和回零軌。特殊型號(hào)的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空環(huán)境中（參見其單獨(dú)“產(chǎn)品信息"）。 |
LIDA | LIDA敞開式直線光柵尺特別適用于運(yùn)動(dòng)速度達(dá)10 m/s的高速運(yùn)動(dòng)應(yīng)用，支持多種安裝方式，安裝簡單。根據(jù)相應(yīng)應(yīng)用要求，METALLUR光柵的基體可為鋼帶，玻璃或玻璃陶瓷。也可有限位開關(guān)。 |
PP | PP雙坐標(biāo)編碼器的測量基準(zhǔn)是一個(gè)平面DIADUR相位光柵，掃描方式為干涉掃面。用于測量平面中位置。 |
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