MT12/ST1287/ST1278/ST1288測量長度計(jì)長度測量中引起被測件和測量器具的變形，主要是由于熱變形和彈性變形（接觸變形和自重引起的變形）。這些變形使被測件、測量器具尺寸發(fā)生變化，而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。為此，在測量過程中，應(yīng)盡量做到使各種原因引起的變形為最小，這就是測量的最小變形原則。

MT12/ST1287/ST1278/ST1288測量長度計(jì)介紹：
測量過程中，由于測量力、接觸形式、被測件的自重等原因?qū)⑹箿y量器具或被測件產(chǎn)生彈性變形，造成測量誤差。具體將，彈性變形主要有儀器支架變形，被測件（如量塊、線紋尺等）的支撐變形；測頭、工作臺(tái)與被測件的接觸變形等。為什么接觸式的測量器具都規(guī)定有測量力；為什么要規(guī)定接觸形式；為什么在測量細(xì)長的被測件時(shí)要適當(dāng)?shù)剡x擇支承點(diǎn)等，都是力圖減少彈性變形，以減少彈性變形引起的測量誤差。  
1．彈性變形引起的測量誤差  
（1）支承變形  
當(dāng)被測件水平放置時(shí)，其彎曲變形量的大小和變形狀態(tài)與支承方式和支點(diǎn)的位置有密切的關(guān)系，對(duì)細(xì)長被測件而言，自重的影響更為顯著。  
（2）接觸變形  
2.不正確地選擇測量力的大小、接觸體的材料及接觸方式將會(huì)引起較大的表面接觸變形。  
MT12/ST1287/ST1278/ST1288測量長度計(jì)測量力引起的接觸變形  
接觸測量時(shí)，測量儀器必須有足夠的測量力，以保證測頭與被測件可靠地接觸。但測量力的存在將在接觸位置產(chǎn)生壓陷變形而造成測量誤差。一般按被測件公差來確定測量力的大小，當(dāng)被測件公差小于2μm時(shí)，測量力不應(yīng)高于2.5N；被測件公差2～10μm時(shí)，測量力應(yīng)為2.5～4N；被測件公差大于10μm時(shí)，測量力應(yīng)大于4N，小于10N。②與接觸方式接觸變形有關(guān)常見的接觸方式分為點(diǎn)接觸、線接觸和面接觸。從變形與接觸面的關(guān)系講，接觸面積越小、壓強(qiáng)越大，變形也越大。顯然在相同的測量力的情況下點(diǎn)接觸變形最大，面接觸變形最小。接觸方式在一般的測量要求中都有規(guī)定。如量塊測量是用球測頭對(duì)平面；外徑千分尺測直徑是平面測頭對(duì)圓柱面；內(nèi)徑千分表測內(nèi)徑是球測頭對(duì)圓柱面等等。我們在測量過程中一般都應(yīng)遵循上述原則。

ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19A 1.50 TTLx5 100.00 90 OT 39 01.. 346474-02 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 66S12 19A 1.50 ~1Vpp 100.00 90 OT 39 01.. 346474-03 
ST 1279 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 50.00 90 OT 0V 010001 346478-01 
ST 1279 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 50.00 90 OT 0V 370001 346478-11 
ST 1288 12 1.0 5mm KF01 02S12 19A 1.50 ~1Vpp 0.00 360 .. 03 01.. 349165-01 
ST 1208 12 1.0 5mm KF01 02S09 19R 1.50 ~11µApp 0.00 360 .. 04 01.. 349216-01 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx10 25.00 90 OT 0V 01.. 349218-01 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-02 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx10 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-03 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 3.00 TTLx10 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-04 

阿貝原則又稱布線原則、串聯(lián)原則，是長度測量中一個(gè)重要的原則。 定義：“如果要使測量儀器得出正確的測量結(jié)果，則必須將儀器的標(biāo)尺安裝在被測件測量中心線的延長線上。”凡違反阿貝原則所產(chǎn)生的誤差叫阿貝誤差。 符合阿貝原則所產(chǎn)生的誤差是二次誤差，當(dāng)表尺與被稱為測件測量中心線的夾角很小時(shí)，此誤差可忽略不計(jì)。不符合阿貝原則所產(chǎn)生的誤差是一次誤差，標(biāo)準(zhǔn)尺與被測件的距離越大，誤差越大，它是一種不可忽視的誤差。 
按阿貝原則設(shè)計(jì)的最典型的儀器是阿貝比長儀、立式光學(xué)計(jì)、測長儀等。這樣，由于導(dǎo)軌的不直度誤差所造成的傾斜角的影響只能產(chǎn)生二次誤差，因此對(duì)儀器導(dǎo)軌直線度的要求可以降低，這就降低了儀器制造成本。但缺點(diǎn)是串聯(lián)布置，加大儀器長度尺寸，溫度對(duì)變形影響也大。因此，在某些情況下不得不違反阿貝原則，采用并聯(lián)布置的方式。如：游標(biāo)卡尺測工件、萬能工具顯微鏡縱向測量等。為減少所產(chǎn)生的測量誤差（一次誤差），一方面要提高導(dǎo)軌的加工精度，另一方面在測量時(shí)盡量縮短標(biāo)準(zhǔn)尺與被測件的距離。