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冷熱沖擊試驗(yàn)箱

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參考價(jià) 38000
訂貨量 1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) PY-E516
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 深圳市

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更新時(shí)間:2024-08-19 11:52:02瀏覽次數(shù):1607

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 1萬(wàn)-5萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 食品,化工,能源,電子,印刷包裝    
PY-E516系列高低溫沖擊試驗(yàn)箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇,充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求;設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性。

詳細(xì)介紹

深圳市普云電子有限公司出品的PY-E516系列高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。

 

PY-E516系列高低溫沖擊試驗(yàn)箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇,充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求;設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性。


高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù) :

型號(hào)

PY-E516-80L 

PY-E516-150L 

PY-E516-225L 

數(shù)


溫度暴露范圍

+60~+200℃

高溫室

預(yù)熱溫度上限

200℃


升溫時(shí)間

R.T.→+200℃約40min


溫度暴露范圍

0~-75℃

低溫室

預(yù)冷溫度下限

-75℃


降溫時(shí)間

R.T.→-70℃約60min


溫度范圍

-65~150℃

提籃

溫度波動(dòng)度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)


溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

轉(zhuǎn)換時(shí)間

≤5S

溫度回復(fù)時(shí)間

≤5min

復(fù)

PY-E516-80L

條件一

高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃,暴露時(shí)間30min,樣品重量5Kg鋁

條件二

高溫暴露120℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間30min,樣品重量10Kg鋁

PY-E516-150L 

條件一

高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃暴露時(shí)間30min,樣品重量10Kg鋁

條件二

高溫暴露120℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間30min,樣品重量30Kg鋁

PY-E516-225L 

條件一

高溫暴露+150℃,低溫暴露-65℃暴露時(shí)間30min樣品重量15Kg鋁

條件二

高溫暴露120℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間30min,樣品重量30Kg鋁


外殼

冷軋鋼板表面噴塑(象白)

結(jié) 構(gòu)

內(nèi)膽

不銹鋼板


隔熱材料

聚氨酯發(fā)泡+超細(xì)玻璃棉

制冷方式

風(fēng)冷

水冷

制冷機(jī)

進(jìn)口壓縮機(jī)

溫度傳感器

鎧裝鉑電阻

控制器

西門(mén)子PLC模塊+7英寸彩色液晶觸摸控制屏 。

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與功能接口

本機(jī)SD數(shù)據(jù)卡RS485接口、USB接口


D

400

500

600

提籃尺寸(mm)

W

500

600

750


H

400

500

500


D

2250

2920

2190

外部尺寸(mm)

W*

1050

1100

1460


H

1950

2150

2320

裝機(jī)功率(KW)

19.7KVA

32KVA

36KVA

電源

AC380V 50Hz三相四線制+接地線

標(biāo)準(zhǔn)配置

產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)1份、試驗(yàn)報(bào)告1份、合格證及質(zhì)量保證書(shū)各1份、打印紙5只、擱板2層、色帶

1只、帶腳輪。

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2

 

 *冷熱沖擊實(shí)驗(yàn) Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇,充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求;
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng),使用壽命長(zhǎng);
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減??;
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性;
多種可選功能(測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等)保證了用戶(hù)多種功能和測(cè)試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求;




*冷熱沖擊測(cè)試 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶(hù)要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯;
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流(過(guò)熱)保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù),確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿(mǎn)足客戶(hù)的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;



*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

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