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x射線成像在快速無損檢測領域里有廣闊的發(fā)展前景
X射線數(shù)字射線成像(DigitalRadiograph,DR)和工業(yè)計算機斷層掃描（IndustrialComputedTomography,ICT）是工業(yè)無損檢測領域中的兩個重要技術分支。DR檢測技術，是20世紀90年代末出現(xiàn)的一種實時的X射線數(shù)字成像技術。相對于現(xiàn)今仍然普遍應用的射線膠片照相，DR檢測的優(yōu)點就是實時性強，可以在線實時地對生產(chǎn)工件結構介質不連續(xù)性、結構形態(tài)以及介質物理密度等質量缺陷進行無損檢測，因此在快速無損檢測領域里有廣闊的發(fā)展前景。
ICT技術是一種融合了射線光電子學、信息科學、微電子學、精密機械和計算機科學等領域知識的高新技術。它以X射線掃描、探測器采集的數(shù)字投影序列為基礎，重建掃描區(qū)域內(nèi)被檢試件橫截面的射線衰減系數(shù)分布映射圖像。據(jù)此圖像，可對被檢試件的結構、密度、特征尺寸、成分變化等物理、化學性質進行判讀和計量。
DR系統(tǒng)一般由射線源、待測物、探測器、圖像工作站等幾部分構成。對于DR檢測技術而言，其核心部件是探測器。目前在工程實際中應用的探測器主要分為兩種：圖像增強器和非晶硅平板探測器。圖像增強器首先通過射線轉化屏將X射線光子轉換為可見光，然后通過CCD（ChargeCoupledDevice）相機將可見光轉化為視頻信號，可在監(jiān)視器上實時顯示，也可通過A/D采集卡轉化為數(shù)字信號輸入到計算機顯示和處理。非晶硅平板探測器采用大規(guī)模集成技術，集成了一個大面積非晶硅傳感器陣列和碘化銫閃爍體，可以直接將X光子轉化為電子，并最終通過數(shù)模轉換器（ADC）轉變成為數(shù)字信號。平板探測器具有動態(tài)范圍大和空間分辨率高的特性，可實現(xiàn)高速的DR檢測，已成為工業(yè)DR檢測技術發(fā)展的主流。