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用戶論文 | 顯微CT追蹤黃瓜葉片霜霉病菌的侵染過程
黃瓜素有“美容之瓜”的美稱，有著“清熱解毒、健腦安神、減肥強體”的神奇功效。為保證黃瓜健康、高產(chǎn)，在其生長過程中，預(yù)防病蟲害是重中之重，而霜霉病是造成黃瓜減產(chǎn)的主要病害之一。
為探究霜霉病菌在侵染黃瓜葉片的過程，進而確定霜霉病的潛育期，沈陽農(nóng)業(yè)大學(xué)的張妍等人利用三英精密的nanoVoxel型 X射線顯微CT觀察黃瓜葉片內(nèi)部的整體結(jié)構(gòu)和不同位置的切面，利用分析軟件計算出孔隙率，從而精準(zhǔn)確定病菌侵染時間、位置和潛育期時間，為病菌侵染葉片后，其生理變化的研究提供有力的依據(jù)，讓我們一起來看看吧。
這是取樣照片，樣品取下后無需特殊處理，直接進行CT掃描
通過顯微CT掃描，從CT圖中可以看出，病葉的孔隙小于健康葉片的孔隙，用專業(yè)軟件分析計算兩者的孔隙率，霜霉病葉片和健康葉片的孔隙率分別為16.44%和29.04%，說明兩者在孔隙分布上存在明顯的差異。
A：霜霉病葉片 B：健康葉片
C：孔隙截面圖 D：孔隙標(biāo)記圖
E：霜霉病葉孔隙圖 F：健康葉片孔隙圖
在不同的侵染條件下，病葉的孔隙指標(biāo)（面積、體積和占比）均小于健康葉片，說明葉片在被侵染后，菌絲生長，填滿葉片孔隙內(nèi)部。
在侵染時間不同的情況下，病菌侵染后的60~66h里，葉片的孔隙指標(biāo)明顯高于侵染后的68~70h，說明霜霉菌侵染葉片后，與寄主建立了關(guān)系，從而改變?nèi)~片的內(nèi)部孔隙結(jié)構(gòu)。
X射線顯微CT的掃描結(jié)果協(xié)助研究者確定了病菌侵染的時間段、侵染位置和潛育期的時間，為后續(xù)研究提供了準(zhǔn)確的依據(jù)。