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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
直流I-V特性分析數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，國產(chǎn)自主研發(fā)，性價(jià)比高，測(cè)試范圍更廣，輸出電壓高達(dá)300V，支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出報(bào)告，符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求，可及時(shí)與客戶溝通，為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案，及時(shí)指導(dǎo)客戶編程，加速測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
S系列源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的*國產(chǎn)化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，最大輸出電壓達(dá)300V，最小電流分辨率10pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中:半導(dǎo)體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機(jī)材料與納米材料等特性測(cè)試和分析。
產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作
內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV
源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5位半
四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至10pA
豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
技術(shù)參數(shù)
量大輸出功率：30W，四象限源和肼模式
源限度 | 電壓源: 士30V (≤1A量程) , 士300V (≤100mA量程) ; |
電流源 | 士1.05A(≤30V量程)，士105mA (≤300V量程) ; |
過量程 | 105%量程,源和測(cè)量; |
穩(wěn)定負(fù)載電容 | <22nF ; |
寬帶噪聲(20MHz) | 2mVRMS(典型值)，<20mVVp-p(典型值); |
線纜保護(hù)電壓 | 輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ; |
最大采樣速率 | 1000采樣點(diǎn)/秒; |
觸發(fā) | 支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
輸出接口 | 前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時(shí)刻只能用前或者后面板接口; |
通信口 | RS-232、GPIB、 以太網(wǎng); |
電源 | AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
工作環(huán)境 | 25+10°C ; |
尺寸 | 106mm高x 255mm寬x 425mm長(zhǎng); |
重量 | 5Kg ; |
質(zhì)保期 | 1年; |
電壓及電流精度：(不同型號(hào)電壓量程由差異，以選型指南為準(zhǔn))
電壓 | 源 | 測(cè)量 | ||
量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) |
300mV | 30uV | 0.1%±300uV | 30uV | 0.1%±300uV |
3V | 300uV | 0.1%±500uV | 300uV | 0.1%±500uV |
30V | 3mV | 0.1%±3mV | 3mV | 0.1%±3mV |
300V | 30mV | 0.1%±30mV | 30mV | 0.1%±30mV |
電流 | 源 | 測(cè)量 | ||
量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) |
100nA | 10pA | 0.1%±0.5nA | 10pA | 0.1%±0.5nA |
1uA | 100pA | 0.1%±3nA | 100pA | 0.1%±3nA |
10uA | 1nA | 0.1%±5nA | 1nA | 0.1%±5nA |
100uA | 10nA | 0.1%±50nA | 10nA | 0.1%±50nA |
1mA | 100nA | 0.1%±300nA | 100nA | 0.1%±300nA |
10mA | 1uA | 0.1%±5uA | 1uA | 0.1%±5uA |
100mA | 10uA | 0.1%±20uA | 10uA | 0.1%±20uA |
產(chǎn)品應(yīng)用
分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等
有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等
納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線等