產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>
通過實(shí)驗(yàn)動(dòng)手操作,加深對半導(dǎo)體物理理論知識(shí)的理解,掌握半導(dǎo)體材料和不同器件性能的表征方法及基本實(shí)驗(yàn)技能,培養(yǎng)分析問題和解決問題的能力。
本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)?zāi)夸?/strong>
實(shí)驗(yàn)一:金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性IV特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)二:四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)三: MOS電容的CV特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)四:半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)五:激光二極管LD的LIV特性測試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)六:太陽能電池的特性表征實(shí)驗(yàn)
本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)測試平臺(tái)優(yōu)勢
滿足本科生基礎(chǔ)教學(xué)實(shí)驗(yàn)中微電子器件和材料測試需求
測試設(shè)備簡單易用,專業(yè)權(quán)W方便學(xué)生動(dòng)手操作
核心設(shè)備測試精度高,滿足新材料和新器件的指標(biāo)要求
測試軟件功能齊全,平臺(tái)化設(shè)計(jì),有專人維護(hù)支持,與專業(yè)測試軟件使用相同架構(gòu)
以基礎(chǔ)平臺(tái)為起點(diǎn),可逐步升級,滿足日益增加的實(shí)驗(yàn)室測試需求
本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)測試平臺(tái)基本功能
實(shí)驗(yàn)名稱 | 測試參數(shù) |
金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性的IV特性測試實(shí)驗(yàn) |
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四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實(shí)驗(yàn)
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MOS電容的CV特性測試實(shí)驗(yàn)(低頻 + 高頻) |
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半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實(shí)驗(yàn) |
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激光二極管LD的LIV特性測試
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太陽能電池的特性表征
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本科生微電子器件及材料實(shí)驗(yàn)測試平臺(tái)核心
測試平臺(tái)的核心– 源測量單元(源表, SMU)
微電子器件與材料實(shí)驗(yàn)用數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,普賽斯國產(chǎn)源表四表合一 四象限模式
四線/開爾文測試功能
小信號測試
滿足*器件和材料測試需求
交流測試使用LCR表
探針臺(tái):4寸或6寸手動(dòng)探針臺(tái)