產(chǎn)品簡介
①可以的,使用其四線測量模式;
②四探針測試時(shí)一般是恒流測電壓,而所加的電流一般在m*,所以對線纜基本沒有要求
詳細(xì)介紹
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測試方法有很多種,其中四探針法具有設(shè)備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀無嚴(yán)格要求的特點(diǎn)。因此,目前檢測半導(dǎo)體材料電阻率,尤其對于薄膜樣品來說,四探針是較常用的方法。
普賽斯儀表S型源表能否直接進(jìn)行四探針測試?對線纜要求?
①可以的,使用其四線測量模式;
②四探針測試時(shí)一般是恒流測電壓,而所加的電流一般在m*,所以對線纜基本沒有要求
四探針測試原理
四探針技術(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時(shí),測試中間兩根探針的電壓差。后,電阻率通過樣品的幾何參數(shù),輸出電流源和測到的電壓值來計(jì)算得出。四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試方案,使用普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度S型源表,既可以在輸出電流時(shí)測試電壓,也可以在輸出電壓時(shí)測試電流。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控,測量電壓分辨率高達(dá)微伏級。支持四線開爾文模式,因此適用于四探針測試,可以簡化測試連接,得到準(zhǔn)確的測試結(jié)果。
源表能否直接進(jìn)行四探針測試?對線纜要求?找普賽斯儀表,普賽斯數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),對標(biāo)美國2400,B2901;可實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進(jìn)行,提高測試效率;支持四象限工作,測量范圍廣,電壓高至300V,電流低至100pA;支持USB存儲,一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告;5寸觸摸顯示屏圖形化操作,內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,加速用戶完成測試;支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng);
普賽斯源表功能:J確提供四象限電壓或電流,并同步測量電流和電壓;可以實(shí)現(xiàn)電源、萬用表、電子負(fù)載、電源/測量組合功能;
用途:J確提供和測量電壓和/或電流,廣泛應(yīng)用于各種電器特性參數(shù)測試中,如IV掃描;
普賽斯源表優(yōu)勢:四象限工作,源和負(fù)載;電壓及電流范圍廣,電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V,準(zhǔn)確度為0.1%;5寸觸摸顯示屏圖形化操作,內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,加速用戶完成測試;支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng);
額外功能(軟件實(shí)現(xiàn)的):二極管IV掃描及參數(shù)分析、三極管IV掃描及參數(shù)分析、LIV測試系統(tǒng)、太陽能電池放電測試系統(tǒng)、電池充放電循環(huán)系統(tǒng)等;
普賽斯源表應(yīng)用領(lǐng)域:分立半導(dǎo)體器件特性測試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等;能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等;傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應(yīng)等;有機(jī)材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術(shù)等;納米材料特性測試,石墨烯、納米線等;
普賽斯源表應(yīng)用方案:二極管IV測試、激光二極管LIV測試、三極管MOS管IV測試、APD管IV測試、太陽能電池板特性參數(shù)測試、電池充放電特性參數(shù)測試、電化學(xué)循環(huán)伏安測試;
普賽斯源表替代方案:吉時(shí)利2400/2450、是德B2901
普賽斯數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢:
1、多功能測量需求下的廣泛的適應(yīng)性,電壓高300V,電流低至100pA;
2、實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進(jìn)行,提高測試效率。
3、具備對測試器件的保護(hù)功能,可進(jìn)行自我限制,避免因過充而造成的對測試器件的損害;J確的電壓電流限制功能,為器件提供完善的保護(hù)功能,避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作,使用簡單。開放式平臺,可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對性的開發(fā)軟件。