產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,交通,航天,汽車 |
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IRMS8599B通過將光線投射到要測(cè)量的薄膜上并測(cè)量來自前后反射光的干涉來測(cè)量薄膜厚度。膜厚使用以下原理來測(cè)量:隨著膜厚的增加,在反射光譜中出現(xiàn)的波(干擾波)的數(shù)量增加。無需校準(zhǔn)曲線即可進(jìn)行高精度測(cè)量。
連續(xù)光譜法可進(jìn)行FFT分析和CF(曲線擬合)分析
同時(shí)測(cè)量多達(dá)4層
工作溫度0至50°C,IP65(防塵和防滴結(jié)構(gòu))