產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,交通,航天,汽車,電氣 |
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IRMS8599S將光投射到要測(cè)量的薄膜上,并通過前表面反射光和后表面反射光的干涉來測(cè)量膜厚。膜厚使用以下原理來測(cè)量:隨著膜厚的增加,在反射光譜中出現(xiàn)的波(干擾波)的數(shù)量增加。無需校準(zhǔn)曲線即可進(jìn)行高精度測(cè)量。
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2020-05-27 18:37:53瀏覽次數(shù):315
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名稱 | 格式 |
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光學(xué)干涉式膜厚計(jì) | IRMS8599S |
*光纖,電纜和附件單獨(dú)出售。
測(cè)量方式 | 可見光近紅外連續(xù)光譜 |
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測(cè)量范圍 | 20納米?100微米 |
測(cè)量波長范圍 | 0.4?1.0微米 |
測(cè)量距離/直徑 | 10-80mm /φ20mm(平行光筒) 18mm /φ2mm(會(huì)聚光筒) 80mm /φ5mm(會(huì)聚光筒) |
測(cè)量間隔 | 10?10,000毫秒 |
光源 | 鎢絲燈 |
纖維 | 分叉束纖維 |
通訊接口 | RS-485 |
模擬量輸出信號(hào) | DC 4?20mA(負(fù)載電阻500Ω以下) |
電源 | 直流24V |
能量消耗 | z高150VA |
大眾 | 3.5公斤 |
防護(hù)結(jié)構(gòu) | 防塵/防濺結(jié)構(gòu)(IP65) |
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紅外多分量表橫移系統(tǒng)
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紅外多組分儀表(水分,有機(jī)物,膜厚,涂層厚度)IM系列
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日本CHINO千野 光學(xué)干涉型膜厚計(jì)IRMS8599S
日本CHINO千野 光學(xué)干涉型膜厚計(jì)IRMS8599S