• 配有寬范圍且高分辨力的 Z 軸檢出器。
• 測(cè)量范圍
Z1 軸 (檢出器): 5mm(分辨力: 0.0008μm*測(cè)量范圍為0.05mm時(shí)適用)
X 軸: 100mm(分辨力: 0.05μm)
• 檢出器的延伸量:大70mm (可固定在所需的位置)。
• 使用FORMTRACEPAK 軟件提供了豐富多樣的分析功能以實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的表面紋理評(píng)估。
規(guī)格
貨號(hào) | CS-3200S4 |
測(cè)量范圍/ 分辨力 | X 軸 | 100mm/0.05µm |
Z1 軸 (檢出器) | 5mm/0.08µm |
0.5mm/0.008µm |
0.05mm/0.0008µm |
Z2 軸 (立柱) | 1 µm |
精度 (20ºC) | X 軸 | ±(0.8+0.01L) µm (L= 測(cè)量長(zhǎng)度(mm)) |
Z1 軸 (檢出器) | ±(1.5+|2H|/100) µm H = 水平位置上的測(cè)量高度 (mm) |
驅(qū)動(dòng)部 | 直線度 (X 軸) | 正常使用下 | 0.2µm/100mm |
當(dāng)伸出到程度 | 0.4µm/100mm |
測(cè)量速度 | 表面粗糙度測(cè)量 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2mm/s (4-step) |
輪廓測(cè)量 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0mm/s (7級(jí)) |
驅(qū)動(dòng)速度 | X 軸 (水平方向) | 0 to 80mm/s 外加手動(dòng) |
Z2 軸 (垂直方向) | 0 to 20mm/s 外加手動(dòng) |
上/下移動(dòng) | 300mm (電動(dòng)) |
傾角范圍 | ±45º |
檢出器 | 檢出方式 | 差動(dòng)感應(yīng) |
測(cè)力 | 0.75mN |
測(cè)針名稱(chēng) | 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針 (用于粗糙度/輪廓測(cè)量) | 針尖角度: 60º 圓錐, 針尖半徑: 2µm, 金剛石針尖 |
圓錐型 (用于輪廓測(cè)量) | 針尖角度: 30º 圓錐, 針尖半徑: 25µm, 藍(lán)寶石針尖 |
測(cè)針上/ 下運(yùn)作 | 適用 (可在半空停頓) |
注:雖然天然石材測(cè)量桌的外觀各有不同,但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的
日本三豐表面粗糙度測(cè)量機(jī) CS-3200
日本三豐表面粗糙度測(cè)量機(jī) CS-3200