您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
奧林巴斯相控陣探傷儀探頭
典型陣列探頭的頻率范圍為1 MHz到17 MHz，晶片的數(shù)量范圍為10到128。Olympus提供各種各樣利用壓電復(fù)合材料技術(shù)的探頭，可進(jìn)行各種各樣的檢測。本部分說明Olympus的標(biāo)準(zhǔn)相控陣探頭。這些探頭被分為三種類型：角度聲束探頭、整合楔塊探頭及水浸探頭。
其它類型的探頭是根據(jù)應(yīng)用需要而特殊設(shè)計(jì)的探頭。
線性陣列探頭是工業(yè)應(yīng)用中常用的相控陣探頭。定義相控陣探頭的一個(gè)重要因素是探頭的激活孔徑。
焊縫系列探頭
焊縫檢測探頭帶有外殼及一條從前面或頂部伸出的線纜，以避免與掃查器探頭架產(chǎn)生干擾。這些探頭適用于對(duì)焊縫進(jìn)行的手動(dòng)和自動(dòng)檢測。新款A(yù)31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊通過使用更少的設(shè)計(jì)方案，不僅使焊縫檢測簡化和標(biāo)準(zhǔn)化，而且還改進(jìn)了信噪比。
DMA（雙矩陣）探頭
雙矩陣（DMA）探頭包含兩個(gè)與同一個(gè)連接器連線的矩陣探頭，具有使用發(fā)送-接收縱波（TRL）聲束進(jìn)行檢測的能力。這類探頭的頻率為2.0 MHz和4.0 MHz，在檢測帶堆焊層的直管或高衰減性材料時(shí)，這些探頭特別有用。
雙晶線性陣列探頭
新型雙晶線性陣列探頭，在腐蝕檢測應(yīng)用方面，為檢測人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢。這種相控陣解決方案通過諸如更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，及具有更高數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的C掃描成像等特性提高生產(chǎn)力。
Immersion Probes
水浸探頭的設(shè)計(jì)目的是與水楔配合使用，或當(dāng)被測工件部分或全部浸入水中時(shí)在水浸箱中使用。這類探頭屬縱波探頭，但經(jīng)過設(shè)置后，使用Rexolite楔塊可以進(jìn)行折射橫波檢測。
Curved Array Probes
曲面陣列探頭外包不銹鋼防腐鋼殼，在水面下1米以內(nèi)具有防水性能。這類探頭的聲學(xué)阻抗與水相配。它們可與所有可調(diào)節(jié)水浸楔塊配合使用，除了可完成復(fù)合材料的分層檢測，還可對(duì)碳纖維加強(qiáng)聚合物材料（CFRP）的圓角部位進(jìn)行檢測。
深穿透探頭
深穿透探頭可與各種楔塊配合使用，進(jìn)行各種角度聲束的檢測應(yīng)用。這些探頭于深穿透應(yīng)用，如對(duì)較厚平板、焊縫、鍛件，及多噪聲或晶粒狀材料的檢測。
奧林巴斯相控陣探傷儀探頭
小腳印探頭
小腳印探頭可進(jìn)入到活動(dòng)空間狹窄的區(qū)域（A00探頭的腳印尺寸為8×8毫米）。
一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭
這種組合件將一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭放置于同一個(gè)外殼中，這樣就使探頭和楔塊的組合件具有非常薄的側(cè)面，可以用于接觸式角度聲束檢測。由于無需在探頭和楔塊接觸面之間使用耦合劑，因此探頭和楔塊之間的耦合狀態(tài)會(huì)永遠(yuǎn)保持狀態(tài)。 這些探頭可對(duì)應(yīng)力腐蝕裂紋進(jìn)行手動(dòng)檢測，還可用于符合AWS和DGS規(guī)范的應(yīng)用，此外，這些探頭還可同時(shí)使用40°到70°角度對(duì)6.35毫米到19毫米的較厚表面進(jìn)行手動(dòng)焊縫檢測（對(duì)接接頭、角接接頭、T型接頭）。
用于角度聲束探頭的楔塊
用于角度聲束探頭的楔塊有可在鋼中生成0°、45°、55°、60°標(biāo)準(zhǔn)的折射角度的型號(hào)，可進(jìn)行從30°到70°范圍內(nèi)的橫波或縱波角度聲束檢測。這些楔塊帶有不銹鋼螺釘孔，可將楔塊牢固地安裝在探頭上。 可訂購的IHC楔塊可以提高檢測質(zhì)量：灌溉，楔塊架上的安裝孔可用于連接Olympus的掃查器，硬質(zhì)合金條可提高防磨效果。
Universal（用途廣泛）探頭
用途廣泛的各種探頭與楔塊組合在一起的側(cè)面極薄，可以較為容易地進(jìn)到空間狹小的區(qū)域。這些探頭可以和多種楔塊一起使用，進(jìn)行各種角度聲束檢測應(yīng)用。 這些探頭不僅用于對(duì)6.35毫米到38毫米的較厚焊縫進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)檢測，還可對(duì)鑄鐵、鍛件、管道、管件、機(jī)加工部件及結(jié)構(gòu)部件的裂縫和焊縫缺陷進(jìn)行檢測。
近壁探頭
近壁探頭的兩端具有較短的盲區(qū)（晶片的中心和末端晶片的中心到與它們探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米）。它們可以*地適用于復(fù)合材料的通道檢測，并用于復(fù)合材料的C掃描檢測（分層、脫膠和多孔性）。
用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊
用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊具有特殊的半徑和角度，其半徑可調(diào)以適用于各種被測工件。這些楔塊的設(shè)計(jì)目的是用于手動(dòng)掃查，并配合袖珍輪式編碼器一起使用。