詳細介紹
微先鋒測厚儀韓國XRF-2000膜厚儀
測量
各類五金,電子連接器端子半導(dǎo)體等電鍍層厚度。
可測
金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鉻,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。
可測
單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。
適應(yīng)
電鍍生產(chǎn)企業(yè),產(chǎn)品來料檢測半導(dǎo)體五金電鍍等相關(guān)行業(yè)。
微先鋒測厚儀韓國XRF-2000膜厚儀
可測
單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
韓國先鋒XRF-2020L型H型
MicropXRF-2000,XRF-2020
韓國微先鋒XRF測厚儀
X-RAY電鍍膜厚測量儀
功能
特點:
全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
儀器全系均為全自動臺,自動雷射對焦!
多點自動測量
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
快速無損測量電鍍層厚度,可測單鍍層,雙鍍層,多層鍍層及合金鍍層