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短波紅外，不再止于科研

幾十年來，*都意識到了SWIR的好處，特別是在科研、、等領(lǐng)域?qū)Χ滩t外相機(jī)的應(yīng)用可以說是遍地開花。如今，工業(yè)領(lǐng)域也開始嘗到了短波紅外的好處，工業(yè)檢測對于短波紅外的應(yīng)用也越來越多。

半導(dǎo)體檢測

半導(dǎo)體工業(yè)涵蓋各種各樣的應(yīng)用，從PC到移動設(shè)備的處理器和存儲器，從集成電路到太陽能電池?，F(xiàn)如今，半導(dǎo)體行業(yè)離不開硅片，而硅片材料中導(dǎo)體Si材料的特性是：反射可見光，透過紅外光。因此人眼或可見光芯片，只能接收材料表面的反射光，無法對材料內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測。而短波紅外相機(jī)則可以彌補(bǔ)可見光的不足，做Si材料的內(nèi)部缺陷檢測。

例如：我們在晶圓背面貼上一張印有圖案的紙張，當(dāng)我們用可見光相機(jī)拍攝時，由于只能接收材料表面的反射光，我們并不能得到晶圓背面圖案的任何信息，而當(dāng)我們使用短波紅外相機(jī)拍攝后，晶圓背面的圖案便可以清晰的呈現(xiàn)在我們眼前。

▲印有圖案的紙張位于晶圓的背面

▲使用短波紅外相機(jī)拍攝晶圓背面，圖案十分清晰

因此，在半導(dǎo)體工業(yè)中，短波紅外工業(yè)相機(jī)可以用來檢測純半導(dǎo)體材料的質(zhì)量。此外，切割成晶片的硅錠和晶片成品，也可以通過短波紅外相機(jī)來檢測缺陷或裂紋，然后將晶片加工成光電子元器件或其他半導(dǎo)體器件。在后切割晶圓成為單芯片的加工過程中，對于鋸片和激光校準(zhǔn)來說，短波紅外相機(jī)依舊是目前應(yīng)用的主流方案。為了進(jìn)行失效分析，裝配好的集成電路進(jìn)行裂紋或光刻檢測，整個生產(chǎn)流程中都需要進(jìn)行檢測，而在這些應(yīng)用中，都少不了短波紅外相機(jī)的身影。

食品分選

同樣，短波紅外相機(jī)也可應(yīng)用在食品分選領(lǐng)域，在可見光拍攝的食品圖片中，肉桂、咖啡豆、巖石與葡萄干顏色相近，但在短波紅外相機(jī)拍攝的圖片中它們卻因?yàn)楦髯运趾康牟煌趫D片中體現(xiàn)了*不一樣的灰度值。

▲左圖為短波紅外相機(jī)拍攝的圖片，右圖為可見光相機(jī)拍攝的圖片，通過圖片對比，我們可知短波紅外相機(jī)更適用于食品分選。

T-DALSA：出爐，短波紅外工業(yè)相機(jī)

既然短波紅外相機(jī)在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用可以如此之廣，Teledyne DALSA作為機(jī)器視覺*羊，*打造了Linea SWIR短波紅外GigE線掃描相機(jī)，該系列相機(jī)采用緊湊型封裝的InGaAs傳感器，并具有高靈敏度和低噪聲，Linea SWIR系列相機(jī)既可以提供具有12.5μm高響應(yīng)性的1k分辨率相機(jī)，也可以具有更大25μm像素的512分辨率相機(jī)，兩款相機(jī)行頻皆為40kHz，同時相機(jī)支持cycling mode、可編程I/O、PoE供電、準(zhǔn)確時間協(xié)議（PTP）等多種功能，適用于多種機(jī)器視覺應(yīng)用。

▲Linea SWIR系列短波紅外相機(jī)

與所有Linea系列線掃描相機(jī)一樣，Linea SWIR具有可靠的構(gòu)建質(zhì)量和功能，Linea SWIR具有使您的機(jī)器視覺工作更輕松的功能，包括高速，高靈敏度，循環(huán)模式和可編程I / O。多功能的Linea SWIR是光學(xué)分選，太陽能電池板檢測以及通用機(jī)器視覺等應(yīng)用的理想選擇。