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產(chǎn)品簡介
GTEM小室是上限頻率擴展至GHz的TEM波導室，它是一種用于替代輻射發(fā)射和輻射敏感度測試的低成本測量設備。它包含在標準IEC/EN 61000-4-20“測試和測量技術——橫向電磁博導的輻射和抗干擾試驗"中。相比于EMC測試當中用到的暗室或開闊場的測量方法，GTEM小室為中小型尺寸的EUT（被測設備），測試頻率達到18GHz的測試提供了顯著的優(yōu)勢，EUT的快速周轉及眾多的測試變化處理變得方便快捷
詳細介紹
GTEM小室全稱為吉赫茲橫電磁波傳輸室，是電磁兼容領域新近發(fā)展起來用于寬帶測量評定被測設備電磁兼容性能的新技術。它繼承了非對稱式TEM小室的損耗小、場強均勻、場強準確可調等優(yōu)點，吸取了無反射室可測頻率高的優(yōu)點，同時又彌補了TEM cell對頻率上限的限制及內部容積與可使用頻率上限成反比等不足之處，GTEM小室的頻率范圍可從直流至數(shù)GHz 以上，其內部容積與整體比值大，對被測物體大小的限制與頻率無關，使用時對外界環(huán)境無特殊要求。因此，GTEM小室很早就被歐洲標準認可作為電磁輻射敏感度(EMS)測試設備，并可作為電磁輻射干擾(EMI)的測試設備。由GTEM小室組成納電磁兼容性能測試系統(tǒng)較之在電波暗室、開闊場地、屏蔽室中采用天線輻射，接收等測試方法可節(jié)省大量資金，免去對外界測試環(huán)境條件的要求，所需配置的儀器設備簡單、效率高，并可數(shù)倍地提高測量速度，極易實現(xiàn)自動化測量。
參照標準
YD/T 1690.2-2007 《中華人民共和國通信行業(yè)標準》–電信設備內部電磁發(fā)射診斷技術要求和測量方法(150KHz~1GHz) 第2部分:輻射發(fā)射測量TEM小室和寬帶TEM小室方法
IEC 61967-2(2005-09)《集成電路-電磁騷擾的測試方法(150KHz~1GHz)第2部分：輻射騷擾測量——TEM小室和寬帶TEM小室法》
DINEN61000-4-20-2011 《電磁兼容性(EMC)-第4-20部分：試驗和測量方法.橫向電磁(TEM)波導的輻射和干擾試驗》
IEC 61000-4-20-2010 《TEM室測試方法》
GB/T 17626.20-2014 《電磁兼容、試驗和測量技術》橫電磁波(TEM)波導中的發(fā)射和抗擾度試驗
GJB151B-2013 《軍用設備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度要求與測量》-RS105瞬態(tài)電磁場輻射敏感度
ISO 11452-3/SAE J1113-24 《道路車輛用窄帶發(fā)射的電磁能量進行電子干擾部件試驗方法》-TEM小室法
IEEE 1309-2013 《頻率為9KHz~40GHz的電磁場傳感器和探頭(天線除外)的校準》
JJG 561-88 /JJG 562-88《中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程》