詳細(xì)介紹
GTEM小室全稱為吉赫茲橫電磁波傳輸室,是電磁兼容領(lǐng)域新近發(fā)展起來用于寬帶測量評定被測設(shè)備電磁兼容性能的新技術(shù)。它繼承了非對稱式TEM小室的損耗小、場強(qiáng)均勻、場強(qiáng)精確可調(diào)等優(yōu)點(diǎn),吸取了無反射室可測頻率高的優(yōu)點(diǎn),同時又彌補(bǔ)了TEM cell對頻率上限的限制及內(nèi)部容積與可使用頻率上限成反比等不足之處,GTEM小室的頻率范圍可從直流至數(shù)GHz 以上,其內(nèi)部容積與整體比值大,對被測物體大小的限制與頻率無關(guān),使用時對外界環(huán)境無特殊要求。因此,GTEM小室很早就被歐洲標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可作為電磁輻射敏感度(EMS)測試設(shè)備,并可作為電磁輻射干擾(EMI)的測試設(shè)備。由GTEM小室組成納電磁兼容性能測試系統(tǒng)較之在電波暗室、開闊場地、屏蔽室中采用天線輻射,接收等測試方法可節(jié)省大量資金,免去對外界測試環(huán)境條件的要求,所需配置的儀器設(shè)備簡單、效率高,并可數(shù)倍地提高測量速度,極易實(shí)現(xiàn)自動化測量。
- 參照標(biāo)準(zhǔn)
- YD/T 1690.2-2007 《中華人民共和國通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)》–電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150KHz~1GHz) 第2部分:輻射發(fā)射測量TEM小室和寬帶TEM小室方法
- IEC 61967-2(2005-09)《集成電路-電磁騷擾的測試方法(150KHz~1GHz)第2部分:輻射騷擾測量——TEM小室和寬帶TEM小室法》
- DINEN61000-4-20-2011 《電磁兼容性(EMC)-第4-20部分:試驗(yàn)和測量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)的輻射和干擾試驗(yàn)》
- IEC 61000-4-20-2010 《TEM室測試方法》
- GB/T 17626.20-2014 《電磁兼容、試驗(yàn)和測量技術(shù)》橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)
- GJB151B-2013 《軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度要求與測量》-RS105瞬態(tài)電磁場輻射敏感度
- ISO 11452-3/SAE J1113-24 《道路車輛用窄帶發(fā)射的電磁能量進(jìn)行電子干擾部件試驗(yàn)方法》-TEM小室法
- IEEE 1309-2013 《頻率為9KHz~40GHz的電磁場傳感器和探頭(天線除外)的校準(zhǔn)》
- JJG 561-88 /JJG 562-88《中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程》