Varex Imaging提供的2520DX-I數(shù)字射線平板探測(cè)器，該探測(cè)器在工業(yè)和安全應(yīng)用中具有的圖像質(zhì)量。
Varex Imaging基于非晶硅的探測(cè)器是工業(yè)應(yīng)用中CBCT的金標(biāo)準(zhǔn)。 非晶硅具有其他技術(shù)*的關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)，包括：
輻射硬度> 1MRad
輸入能量范圍Z廣
不受基材中單光子事件的影響
廣泛的Varex Imaging平板產(chǎn)品線使OEM可以輕松集成多種尺寸的面板。

2520DX-I數(shù)字射線平板探測(cè)器

無損檢測(cè)（NDT）

Varex提供從工業(yè)X射線管到線性加速器，從工業(yè)平板探測(cè)器到成像軟件的無損檢測(cè)（NDT）解決方案。

非破壞性測(cè)試（也稱為非破壞性成像（NDI））是一種成像分析，涵蓋了廣泛的應(yīng)用程序，可在不破壞材料本身的情況下評(píng)估材料的性能。 要求無損檢測(cè)的一些應(yīng)用包括：

• 鑄造檢查
• 焊接和管道成像
• 電子檢查

我們種類繁多的玻璃和陶瓷X射線管為無損檢測(cè)應(yīng)用提供了廣泛的目標(biāo)角度，焦點(diǎn)和功率功能。 對(duì)于需要不同參數(shù)和高分辨率成像的檢查操作，Varex提供了具有小焦點(diǎn)的雙聚焦管和單聚焦管以及帶有鈹（Be）的X射線管，用于低固有過濾。 這項(xiàng)技術(shù)可幫助專業(yè)人士分析管道和其他工業(yè)結(jié)構(gòu)的完整性，而不會(huì)損壞所討論的材料或系統(tǒng)。

Varex工業(yè)平板探測(cè)器還設(shè)計(jì)用于滿足廣泛的非破壞性測(cè)試應(yīng)用。 通過提供各種尺寸的產(chǎn)品，我們的檢測(cè)器有助于防止幾何變形并*地減小磁場(chǎng)和輻射的影響。 我們的探測(cè)器技術(shù)使我們的客戶能夠利用的數(shù)字圖像質(zhì)量，高通量和CT功能。 這些檢測(cè)器可在整個(gè)視場(chǎng)中呈現(xiàn)均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術(shù)人員可以拍攝更高質(zhì)量的圖像。 由于我們的平板檢測(cè)器可以捕獲數(shù)字圖像并消除膠片需求，因此可以在更短的時(shí)間內(nèi)捕獲更多圖像。

如果您的非破壞性測(cè)試需求要求您對(duì)需要更高能量的大型結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像，那么我們的線性加速器是一種出色的解決方案，可幫助您對(duì)像火箭和其他航空航天產(chǎn)品一樣大的物體成像。

 

滿足您的無損檢測(cè)需求的成像解決方案

工業(yè)X射線管

工業(yè)平板探測(cè)器

直線加速器

2520DX-I數(shù)字射線平板探測(cè)器