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當(dāng)前位置:上海一華儀器設(shè)備有限公司>>公司動態(tài)>>高低溫試驗箱GDW/YH-150L使用的范圍和資料
高低溫試驗機本產(chǎn)品適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高、低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。本系列試驗箱性能指標(biāo)均達到國家標(biāo)準(zhǔn)GB 10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件,適用于按GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫試驗。
高低溫試驗箱:GDW/YH-150L
工作室尺寸:500×500×600
溫度范圍:-20/-40/-60/-70℃~+100/150℃
溫度波動度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤±2℃
降溫速率:0.7~1℃/min?。蛰d)
升溫速率:2~3℃/min?。蛰d)
噪音(dB):≤65
電源:AC220/380V 50Hz
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da:交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》
GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗 GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗 GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
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