電纜綜合測(cè)試儀根據(jù)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試儀的測(cè)試能力也有很大提高，測(cè)試內(nèi)容也越來(lái)越豐富，測(cè)試覆蓋率及測(cè)試精度準(zhǔn)確性也越來(lái)越高，從而更有效得保證線纜的整體性能。
線纜綜合測(cè)試儀
這類(lèi)線纜測(cè)試儀主要針對(duì)線纜的接線錯(cuò)誤、絕緣性能及耐電壓性能進(jìn)行綜合測(cè)試。測(cè)試覆蓋率及精度都很高，可以有效反應(yīng)線纜的相關(guān)綜合特性，并且可以隨時(shí)記錄線纜的各種參數(shù)測(cè)量值，作為線纜測(cè)試的存檔依據(jù)，為分析線纜特性提供保障。
可以測(cè)試的內(nèi)容包括線纜的開(kāi)路短路，錯(cuò)接，漏接，絕緣電阻，耐壓漏電流等參數(shù)。此類(lèi)測(cè)試儀如宇豐凱電子的SEFELEC 5000系列線纜測(cè)試儀，配合高壓測(cè)試儀可以實(shí)現(xiàn)5KVAC/6KVDC的高壓測(cè)試，對(duì)于單線芯、多線芯及線纜網(wǎng)絡(luò)均可以進(jìn)行測(cè)試。
電纜綜合測(cè)試儀線纜在實(shí)際使用過(guò)程中，還需要對(duì)其傳輸性能進(jìn)行進(jìn)一步測(cè)試，分析線纜的各項(xiàng)傳輸指標(biāo)是否符合初設(shè)計(jì)要求。主要測(cè)試參數(shù)為：近端串?dāng)_(NEXT)遠(yuǎn)端的近端串?dāng)_(NEXT @ remote)，特性阻抗（Characteristic Impedance)，直流環(huán)路電阻(DC Loop Resistance)，傳輸時(shí)延(Propagation Delay)，時(shí)延偏離(Delay Skew)，回波損耗(Return Loss)，遠(yuǎn)端的RL(RL @ remote)，衰減(Attenuation)，衰減串?dāng)_比(ACR)，遠(yuǎn)端的衰減串?dāng)_比(ACR @ remote)，綜合衰減串?dāng)_比(Power Sum ACR)，遠(yuǎn)端的綜合衰減串?dāng)_比(PSACR @remote)，等效遠(yuǎn)端串?dāng)_(ELFEXT)，遠(yuǎn)端的等效遠(yuǎn)端串?dāng)_ELFEXT @ remote)，綜合的近端串?dāng)_(PS NEXT)，遠(yuǎn)端的PS NEXT，綜合等效遠(yuǎn)端串?dāng)_(PSELFEXT)，遠(yuǎn)端的綜合等效遠(yuǎn)端串?dāng)_ PSELFEXT @ Remote，綜合的近端串?dāng)_(PS NEXT)，遠(yuǎn)端的綜合近端串?dāng)_(PSNEXT @remote)。此類(lèi)測(cè)試儀如美國(guó)福祿克DSP系列分析測(cè)試儀，為便攜式小型測(cè)試儀，可以對(duì)上述參數(shù)進(jìn)行*測(cè)試。
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