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Cu /xx-銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片
  • Cu /xx-銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片

貨物所在地:廣東廣州市

地: 美國(guó)

更新時(shí)間:2024-07-21 21:00:06

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銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片; 標(biāo)準(zhǔn)片是用來(lái)為膜厚測(cè)試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的,同時(shí)也是檢驗(yàn)和校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片它屬于易損易耗件,但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關(guān),若操作得當(dāng),小心保護(hù)且存放在干燥密封的皿器內(nèi),那么可大大延長(zhǎng)其的使用時(shí)間。膜厚標(biāo)準(zhǔn)片是膜厚測(cè)試儀(X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀)*的。

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銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片

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美國(guó)Calmetrics公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)X射線(xiàn)熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件,提供對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù),公司通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證。公司提供所有證書(shū)符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI(American National Standards Institute美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì))標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好。
Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、韓國(guó)ISP、日立Hitachi(包括:牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測(cè)、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠(chǎng)牌的測(cè)厚儀。
X射線(xiàn)測(cè)厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。如:?jiǎn)五儗樱篈u/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx,三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx,合金鍍層:Ni-P/xx。
鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于X射線(xiàn)類(lèi)儀器的標(biāo)準(zhǔn)。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標(biāo)準(zhǔn)件都來(lái)自于美國(guó)Calmetrics公司。
X射線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片,專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片:

專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線(xiàn)的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn),之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)來(lái)測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。  

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