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當前位置:> 供求商機> iEDX-150WT-X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀
型 號:iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
產(chǎn)品圖片:
X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀 iEDX-150WT
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結露 | ●功率:150W + 550W |
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
(二)產(chǎn)品特征
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉換器)。
可以增加RoHS檢測功能。
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
當化金厚度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±5%
度規(guī)格 <5%(COV變動率)
當化金厚度 >5u〞時,測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±5%
度規(guī)格 <5%(COV變動率)
當化銀厚度在5u〞-15u〞時,測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±8%
度規(guī)格 <7%(COV變動率)
測化錫時,測量時間為40S
準確度規(guī)格 ±8%
度規(guī)格 <6% (COV變動率)
X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀準確度公式:準確度百分比=(測試10次的平均值-真值)/真值**
度COV公式: (S/10次平均值)**
產(chǎn)品配置及技術指標說明
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:5過濾器自動轉換 |
u檢測系統(tǒng):Pin探測器(可選SDD) | u能量分辨率:159eV(SDD:125eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:840*613*385mm | u樣品移動距離:220*220*10 mm(自動臺) |
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供性能。
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
6. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計算機、打印機(贈送)
注:設備需要配備穩(wěn)壓器,需另計。
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