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當(dāng)前位置:廣州鴻熙電子科技有限公司>>X射線熒光標(biāo)準(zhǔn)樣品>>純元素標(biāo)準(zhǔn)品>> Au INF美國Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片厚金Au 無窮大標(biāo)準(zhǔn)品

美國Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片厚金Au 無窮大標(biāo)準(zhǔn)品

參   考   價: 800

訂  貨  量: ≥1 片

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號Au INF

品       牌Calmetrics/美國

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地廣州市

更新時間:2023-04-24 15:21:13瀏覽次數(shù):1187次

聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
供貨周期 現(xiàn)貨 規(guī)格 無限厚
貨號 HxAu INF 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,電子
主要用途 校準(zhǔn)膜厚測試儀,建立標(biāo)準(zhǔn)測試檔案 品牌 CALMETRICS
貨期 現(xiàn)貨
美國Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片厚金Au 無窮大標(biāo)準(zhǔn)品
用來為膜厚測試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的,同時也是檢驗和校準(zhǔn)膜厚測試儀測試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。

美國Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片厚金Au 無窮大標(biāo)準(zhǔn)品 標(biāo)準(zhǔn)片是用來為膜厚測試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的,同時也是檢驗和校準(zhǔn)膜厚測試儀測試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。它屬于易損易耗件,但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關(guān),若操作得當(dāng),小心保護(hù)且存放在干燥密封的皿器內(nèi),那么可大大延長其的使用時間。膜厚標(biāo)準(zhǔn)片是膜厚測試儀(X射線鍍層測厚儀)*的。

美國Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片厚金Au 無窮大標(biāo)準(zhǔn)品 實(shí)物圖片:

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美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件,提供對標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù),公司通過ISO/IEC 17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI(American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會)標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好。

Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi(包括:牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。

X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。如:單鍍層:Au/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx,三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx,合金鍍層:Ni-P/xx。

鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于X射線類儀器的標(biāo)準(zhǔn)。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標(biāo)準(zhǔn)件都來自于美國Calmetrics公司。

X射線標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片:

專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線,之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

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