單鍍層錫SN厚標(biāo)樣Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片Calmetrics是美國原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測)Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件，提供對標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù)，公司通過ISO/IEC17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI (American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會）標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標(biāo)準(zhǔn)片分單層標(biāo)準(zhǔn)片、雙層標(biāo)準(zhǔn)片、多層標(biāo)準(zhǔn)片，其中單層標(biāo)準(zhǔn)片又可分為單元素標(biāo)準(zhǔn)片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標(biāo)準(zhǔn)片、合金薄片、合金鍍在底材上等，各種規(guī)格搭配，可根據(jù)客戶個性化需要定制。所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片，并附有標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于各種品牌的X射線測厚儀（涂鍍層厚度測試儀） 應(yīng)用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測)、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀（膜厚計）。

單鍍層錫SN厚標(biāo)樣Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片

Calmetrics是美國原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測)Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件，提供對標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù)，公司通過ISO/IEC17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI (American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會）標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標(biāo)準(zhǔn)片分單層標(biāo)準(zhǔn)片、雙層標(biāo)準(zhǔn)片、多層標(biāo)準(zhǔn)片，其中單層標(biāo)準(zhǔn)片又可分為單元素標(biāo)準(zhǔn)片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標(biāo)準(zhǔn)片、合金薄片、合金鍍在底材上等，各種規(guī)格搭配，可根據(jù)客戶個性化需要定制。所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片，并附有標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于各種品牌的X射線測厚儀（涂鍍層厚度測試儀） 應(yīng)用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測)、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀（膜厚計）。

Calmetrics是美國原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本電測)Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件，提供對標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù)，公司通過ISO/IEC17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI (American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會）標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標(biāo)準(zhǔn)片分單層標(biāo)準(zhǔn)片、雙層標(biāo)準(zhǔn)片、多層標(biāo)準(zhǔn)片，其中單層標(biāo)準(zhǔn)片又可分為單元素標(biāo)準(zhǔn)片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標(biāo)準(zhǔn)片、合金薄片、合金鍍在底材上等，各種規(guī)格搭配，可根據(jù)客戶個性化需要定制。所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片，并附有標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.
Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于各種品牌的X射線測厚儀（涂鍍層厚度測試儀） 應(yīng)用：適用于Fischer(菲希爾)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本電測)、Thermo（熱電）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀（膜厚計）。