VIAVI SmartOTDR手持式光纖測(cè)試儀，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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光通道檢查儀和OCC-56 DWDM光通道檢查儀是光譜分析儀(OSA)的緊湊型低成本測(cè)試替代解決方案專為承擔(dān)安裝、維護(hù)和光通道替代解光通道檢查儀和OCC-56 DWDM光通道檢查儀是光譜分析儀(OSA)的緊湊型低成本測(cè)試替代解決方案專為承擔(dān)安裝、維護(hù)和光通道替代解決方案湊型低成本測(cè)試替代解決方案專的溫度點(diǎn)范圍內(nèi)設(shè)置零校準(zhǔn)誤差。易讀的刻度盤是一種帶有對(duì)齊指針的深拉金屬，提供了反視差設(shè)低方格表盤背景表面。密封的外殼和有機(jī)玻璃鏡頭是用不銹鋼固定的，采用快速鎖緊，凸輪作用的擋板環(huán)。光通道檢查儀和OCC-56 DWDM光通道檢查儀是光譜分析儀(OSA)的緊湊型低成本測(cè)試替代解決方案專為承擔(dān)安裝、維護(hù)和光通道替代解決方案湊型低成本測(cè)試替代解決方案專的溫度點(diǎn)范圍內(nèi)設(shè)置零校準(zhǔn)誤差。易讀的刻度盤是一種帶有對(duì)齊指針的深拉金屬，提供了反視差設(shè)低方格表盤背景表面。密封的外殼和有機(jī)玻璃鏡頭是用不銹鋼固定的，采用快速鎖緊，凸輪作用的擋板環(huán)。光通道檢查儀和OCC-56 DWDM光通道檢查儀是光譜分析儀(OSA)的緊湊型低成本測(cè)試替代解決方案專為承擔(dān)安裝、維護(hù)和光通道替代解決方案湊型低成本測(cè)試替代解決方案專的溫度點(diǎn)范圍內(nèi)設(shè)置零校準(zhǔn)誤差。易讀的刻度盤是一種帶有對(duì)齊指針的深拉金屬，提供了反視差設(shè)低方格表盤背景表面。密封的外殼和有機(jī)玻璃鏡頭是用不銹鋼固定的，采用快速鎖緊，凸輪作用的擋板環(huán)。決方案湊型低成本測(cè)試替代解決方案專的溫度點(diǎn)范圍內(nèi)設(shè)置零校準(zhǔn)誤差。易讀的刻度盤是一種帶有對(duì)齊指針的深拉金屬，提供了反視差設(shè)低方格表盤背景表面。密封的外殼和有機(jī)玻璃鏡頭是用不銹鋼固定的，采用快速鎖緊，凸輪作用的擋板環(huán)。