VIAVIMCA III泄漏檢測(cè)儀，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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VIAVIMCA III泄漏檢測(cè)儀       VIAVIMCA III泄漏檢測(cè)儀        VIAVIMCA III泄漏檢測(cè)儀

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具備分怖式監(jiān)控能力的短程戰(zhàn)略故障排除系統(tǒng)應(yīng)用側(cè)重A10/A11，P-H(包括Radius)，A1(is-634，IOS-4.x)和is-41協(xié)議擴(kuò)展的析擴(kuò)展的捕獲過(guò)濾功能通過(guò)K實(shí)現(xiàn)的智能高水平性能數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析根本原因具有強(qiáng)大的靈活遠(yuǎn)程控制的分怖式測(cè)試能力解碼能力(包括A10/A11 GRE重組和VJ減壓縮)強(qiáng)大的以太網(wǎng)/IP傳輸網(wǎng)絡(luò)故障排除測(cè)試能力控制平面和用戶平面分析。具備分怖式監(jiān)控能力的短程戰(zhàn)略故障排除系統(tǒng)應(yīng)用側(cè)重A10/A11，P-H(包括Radius)，A1(is-634，IOS-4.x)和is-41協(xié)議擴(kuò)展的析擴(kuò)展的捕獲過(guò)濾功能通過(guò)K實(shí)現(xiàn)的智能高水平性能數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析根本原因具有強(qiáng)大的靈活遠(yuǎn)程控制的分怖式測(cè)試能力解碼能力(包括A10/A11 GRE重組和VJ減壓縮)強(qiáng)大的以太網(wǎng)/IP傳輸網(wǎng)絡(luò)故障排除測(cè)試能力控制平面和用戶平面分析。具備分怖式監(jiān)控能力的短程戰(zhàn)略故障排除系統(tǒng)應(yīng)用側(cè)重A10/A11，P-H(包括Radius)，A1(is-634，IOS-4.x)和is-41協(xié)議擴(kuò)展的析擴(kuò)展的捕獲過(guò)濾功能通過(guò)K實(shí)現(xiàn)的智能高水平性能數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析根本原因具有強(qiáng)大的靈活遠(yuǎn)程控制的分怖式測(cè)試能力解碼能力(包括A10/A11 GRE重組和VJ減壓縮)強(qiáng)大的以太網(wǎng)/IP傳輸網(wǎng)絡(luò)故障排除測(cè)試能力控制平面和用戶平面分析。