VIAVIMTS高級(jí)光模塊，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過(guò)程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè)?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過(guò)程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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P5000i可讓您輕松快捷地確認(rèn)您的所有網(wǎng)絡(luò)連接都暢通無(wú)阻并且得到優(yōu)化.這款智能光纖顯微鏡消除了光纖檢測(cè)中的猜測(cè)問(wèn)題，并對(duì)光纖提供可靠且客觀的通過(guò)/失敗分析，從而可讓客戶連接至網(wǎng)絡(luò)，并獲得好的用戶體驗(yàn).P5000i光纖顯微鏡還可利用用戶在主要網(wǎng)絡(luò)測(cè)試中已使用的多種Viavi測(cè)試解決方案進(jìn)行通過(guò)/失敗分析.一鍵測(cè)試，即可檢查認(rèn)證光纖從而可讓客戶連接至網(wǎng)絡(luò)，并獲得好的用戶體驗(yàn).P5000i光纖顯微鏡還可利用用戶在主要網(wǎng)絡(luò)測(cè)試中已使用的多種Viavi測(cè)試解決方案進(jìn)行通過(guò)/失敗分析.一鍵測(cè)試，即可檢查認(rèn)證光纖端面質(zhì)量，使您的技術(shù)人員立即成為光纖專家用智能顯微鏡驗(yàn)證光纖性能，將結(jié)果傳送至現(xiàn)有的viavi測(cè)試平迅速，簡(jiǎn)便，客觀的測(cè)試，消除不確定性幫助您的技術(shù)人員能一次完成，推動(dòng)佳方法，提高工作質(zhì)量，優(yōu)化工作流程確保連接器壽命。從而可讓客戶連接至網(wǎng)絡(luò)，并獲得好的用戶體驗(yàn).P5000i光纖顯微鏡還可利用用戶在主要網(wǎng)絡(luò)測(cè)試中已使用的多種Viavi測(cè)試解決方案進(jìn)行通過(guò)/失敗分析.一鍵測(cè)試，即可檢查認(rèn)證光纖端面質(zhì)量，使您的技術(shù)人員立即成為光纖專家用智能顯微鏡驗(yàn)證光纖性能，將結(jié)果傳送至現(xiàn)有的viavi測(cè)試平迅速，簡(jiǎn)便，客觀的測(cè)試，消除不確定性幫助您的技術(shù)人員能一次完成，推動(dòng)佳方法，提高工作質(zhì)量，優(yōu)化工作流程確保連接器壽命。端面質(zhì)量，使您的技術(shù)人員立即成為光纖專家用智能顯微鏡驗(yàn)證光纖性能，將結(jié)果傳送至現(xiàn)有的viavi測(cè)試平迅速，簡(jiǎn)便，客觀的測(cè)試，消除不確定性幫助您的技術(shù)人員能一次完成，推動(dòng)佳方法，提高工作質(zhì)量，優(yōu)化工作流程確保連接器壽命。