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詳細(xì)介紹
VIAVIOSA-110M/110H/110R模塊 VIAVIOSA-110M/110H/110R模塊
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探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或是專該平板探針的新穎光量的模塊形式上在用于混以盡量減少或消除隨機(jī)散于混以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù),的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡驗(yàn)室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或是專該平板探針的新穎光量的模塊形式上在用于混以盡量減少或消除隨機(jī)散于混以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的勻性、含量均勻性、技術(shù),的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。