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VIAVIONMSI光網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控系統(tǒng)

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更新時間:2019-04-12 17:08:54瀏覽次數(shù):681

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VIAVIONMSI光網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控系統(tǒng),microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外(NIR)分析儀,用于按設(shè)計質(zhì)量(QbD)制造。該光譜儀是一個堅固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng),用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實等過程分析技術(shù)(PAT)應(yīng)用的實時過程監(jiān)測。可變?yōu)V波器(LVF)技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子,是一種適合于實際應(yīng)用的設(shè)計。

詳細(xì)介紹

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探針是專門設(shè)計的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機(jī)散的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、小的形式上在用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機(jī)散的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、小的形式上在用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機(jī)散的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、小的形式上在用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機(jī)散的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、小的形式上在用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。

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