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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 LabVIEW、Visual C++、配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制。這些功能使測試程序員能夠集中精力開發(fā)測試級別功能和序列，而不用花費(fèi)精力來定義與 MAP
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
VIAVI MAP-230光學(xué)損耗測試儀 VIAVI MAP-230光學(xué)損耗測試儀
VIAVI MAP-230光學(xué)損耗測試儀 VIAVI MAP-230光學(xué)損耗測試儀
MAP-200 具有直觀的、經(jīng)過優(yōu)化的可互換虛擬儀器 (IVI) 驅(qū)動(dòng)程序，便于與常用的應(yīng)用程序開發(fā)環(huán)境（例如 LabVIEW、Visual C++、Visual Basic 和 LabWindows™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制。這些功能使測試程序員能夠集中精力開發(fā)測試級別功能和序列，而不用花費(fèi)精力來定義與 MAP 系統(tǒng)中的特定模塊通信所需的詳細(xì)信息。IVI 驅(qū)動(dòng)程序提供了使自動(dòng)化開發(fā)人員能捕獲系統(tǒng)配置的仿真模式，讓他們能夠脫機(jī)執(zhí)行大部分開發(fā)，將硬件留出來用作其他用途。這些特性讓測試自動(dòng)化開發(fā)和調(diào)試變得輕松快捷。