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回路電阻測(cè)試儀檢測(cè)開關(guān)柜發(fā)熱方法有哪些？
開關(guān)柜回路電阻測(cè)試方法包括紅外測(cè)溫法，無線測(cè)溫法，光纖光柵測(cè)溫法，測(cè)溫貼片法和直流電阻檢測(cè)法。下文為大家詳細(xì)的介紹一下:
一、開關(guān)柜內(nèi)設(shè)備發(fā)熱情分析
回路電阻測(cè)試儀開關(guān)柜內(nèi)導(dǎo)體在運(yùn)行中會(huì)產(chǎn)生熱能。同時(shí)，發(fā)熱是由導(dǎo)體電阻和負(fù)載等效電流決定的。 當(dāng)開關(guān)柜中導(dǎo)體接觸面的電阻異常增加時(shí)，將導(dǎo)致單位時(shí)間內(nèi)溫度明顯升高。 我們稱其為開關(guān)柜中設(shè)備的過熱。 過熱會(huì)導(dǎo)致設(shè)備絕緣急劇下降，并終導(dǎo)致放電事故。
二、開關(guān)柜內(nèi)發(fā)熱診斷檢測(cè)技術(shù)
根據(jù)設(shè)備的停電情況，回路電阻測(cè)試儀的開關(guān)柜中設(shè)備的熱診斷檢測(cè)技術(shù)可以分為停電檢測(cè)和帶電檢測(cè)。 實(shí)時(shí)檢測(cè)包括紅外測(cè)溫，無線測(cè)溫，光纖光柵測(cè)溫等。主要是指停電條件下設(shè)備的直流電阻檢測(cè)。 由于溫度測(cè)量貼片方法直接粘貼在開關(guān)柜內(nèi)部的導(dǎo)電設(shè)備連接器上，因此在停電時(shí)只能通過觀察窗看到有限部分中貼片的顏色變化，這也屬于停電檢測(cè)。 在下文中，將分別討論幾種檢測(cè)開關(guān)柜中熱量產(chǎn)生的方法。
1、紅外測(cè)溫法
由于熱運(yùn)動(dòng)，所有高于* 0度的物體都會(huì)發(fā)出0.75-100um的紅外輻射。 紅外溫度測(cè)量是使用紅外溫度計(jì)測(cè)量物體表面的紅外輻射能量，然后將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，之后進(jìn)行轉(zhuǎn)換。這是一種用于測(cè)量被測(cè)物體溫度值的溫度測(cè)量方法。 紅外測(cè)溫是一種非接觸式測(cè)溫方法，可以在滿足安全距離而不斷電的前提下檢測(cè)開關(guān)柜的溫度。 具有測(cè)量范圍廣，精度高的優(yōu)點(diǎn)。 但是，紅外測(cè)溫方法只能測(cè)量開關(guān)柜外殼的溫度。 如果要切斷開關(guān)柜內(nèi)部組件的熱量，則只能采用帶電拆卸開關(guān)柜外殼的方法，這種方法安全隱患小，生存能力低。
2、無線測(cè)溫法
無線溫度測(cè)量方法是微電子技術(shù)的一項(xiàng)創(chuàng)新。它通過無線傳感器技術(shù)連接每個(gè)元件單元，并執(zhí)行信息傳輸和命令傳輸。開關(guān)柜的無線溫度測(cè)量方法是一種將特殊的溫度測(cè)量探頭嵌入開關(guān)柜中以檢測(cè)開關(guān)柜中設(shè)備溫度并將結(jié)果通過無線傳輸輸出到計(jì)算機(jī)終端的溫度測(cè)量方法。使用無線溫度測(cè)量方法來測(cè)量開關(guān)柜中設(shè)備的溫度具有智能自動(dòng)化和實(shí)時(shí)監(jiān)控的特性，但是無線感應(yīng)模塊的電源側(cè)存在缺陷。使用感應(yīng)電源存在電源不足的問題。電池的使用將受到電池質(zhì)量和壽命的嚴(yán)重限制，很難在大面積推廣。
3、光纖光柵測(cè)溫法
FBG溫度測(cè)量方法是基于光纖溫度測(cè)量方法的改進(jìn)方法。 FBG溫度測(cè)量方法的原理是通過光纖傳感器與被測(cè)物體之間的相互作用產(chǎn)生光信息，并通過一根或多根光纖導(dǎo)線和信號(hào)調(diào)理設(shè)備傳輸光信號(hào)以完成測(cè)量。 光纖光柵測(cè)溫方法的優(yōu)點(diǎn)是受環(huán)境影響小，測(cè)溫精度高。 缺點(diǎn)是成本高，不利于變電站的推廣和使用。
4、測(cè)溫貼片法
測(cè)溫貼片法是一種利用測(cè)溫貼片的特性在高溫下變色的測(cè)溫方法，并定期檢查粘貼在設(shè)備接頭上的測(cè)溫蠟片的顏色，以確定是否存在過熱缺陷。 在這一部分。 使用溫度測(cè)量補(bǔ)丁方法來檢測(cè)開關(guān)柜中組件的隱患。 它具有初始投資成本低，效果直觀的優(yōu)點(diǎn)，但也有一定的局限性。
a。 溫度測(cè)量貼片會(huì)在特定溫度值下改變顏色，但無法反映設(shè)備的實(shí)際加熱溫度，因此無法診斷設(shè)備的熱降解程度。 很難區(qū)分由器件的正常加熱和器件缺陷的過熱引起的芯片變色。
b。 *封閉的金屬鎧裝開關(guān)設(shè)備缺少足夠的觀察孔，無法在通電時(shí)檢測(cè)所有溫度測(cè)量貼片的變色。 結(jié)合其他停電計(jì)劃的技術(shù)交流，測(cè)試將增加工作量并嚴(yán)重影響工作時(shí)間。
5、直流電阻檢測(cè)法
直流電阻測(cè)試方法是一種間接測(cè)試方法，使用100A大電流方法直接測(cè)量被測(cè)設(shè)備的電阻值，以通過環(huán)路電阻測(cè)試確定其工作狀態(tài)是否會(huì)導(dǎo)致過熱。 由下式可知：開關(guān)柜中單位時(shí)間內(nèi)在恒定負(fù)載下設(shè)備的異常溫升主要是由于設(shè)備的接觸電阻增加引起的，因此設(shè)備的接觸電阻測(cè)試結(jié)果 可用于判斷設(shè)備是否過熱。 通常，單個(gè)設(shè)備的接觸表面的接觸電阻不應(yīng)大于20uA。 傳統(tǒng)的直流電阻測(cè)試方法只能測(cè)量開關(guān)柜中某個(gè)組件的接觸電阻，而不能用于診斷開關(guān)柜中的所有主要設(shè)備是否都具有隱熱的隱患。
以上就是回路電阻測(cè)試儀檢測(cè)開關(guān)柜發(fā)熱的方法。