FMU30系列新款推出E+H超聲波物位計
E+H一體式超聲波物位計是專業(yè)制造的通用型超聲波物位計，它博采眾長，吸取了國內(nèi)外多種物位儀優(yōu)點，實現(xiàn)了全數(shù)字化，人性化設(shè)計理念，具有完善的物/液位測控·數(shù)據(jù)傳輸和人機(jī)交流功能。主芯片采用進(jìn)口工業(yè)級單片機(jī)，數(shù)字溫度補(bǔ)償和超寬電壓輸入穩(wěn)壓等數(shù)十塊相關(guān)集成電路。具有抗干擾性強(qiáng)，可任意設(shè)置上下限節(jié)點及在線輸出調(diào)節(jié)，并帶有現(xiàn)場顯示，可選擇模擬量，開關(guān)量及RS485輸出，方便的與相關(guān)設(shè)施接口。它不必接觸工業(yè)介質(zhì)就能滿足大部分物位測量要求，從而*地解決了壓力式、電容式、浮子式等傳統(tǒng)測量方式帶來的纏繞、堵塞、泄露、介質(zhì)腐蝕、維護(hù)不便等缺點。
恩德斯豪斯超聲波物位計主要的安裝方式有兩種，一個是頂部安裝，一個是底部安裝，超聲波物位計采用的也是液體導(dǎo)聲，超聲探頭安裝在料罐底部外，超聲波從底部傳入，經(jīng)被測液體傳播到液面，反射后傳回探頭。傳播時間與液位的高低成正比。
微波物位計以光速傳播，速度幾乎不受介質(zhì)特性的影響，傳播衰減也很小，約0.2dB/km.回波信號強(qiáng)弱很大程度上取決于被測液面上的反射情況。在被測液面上的反射率除了取決于被測物料的面積和形狀外，主要取決于物料的相對介電常數(shù)εr.相對介電常數(shù)高，反射率也高，得到的回波強(qiáng)度高;相對介電常數(shù)低，物料會吸收部分微波能量，回波強(qiáng)度較低。
超聲波物位計的應(yīng)用概況
在現(xiàn)場實際運用時，會有各種因素對其穩(wěn)定、可靠的測量產(chǎn)生影響，下面我們將結(jié)合實際，講述各種干擾對超聲波物位計選用、使用、安裝的影響。超聲波流量計
(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響
超聲波從物料表面反射時，其反射頻率會受到物料溫度的影響而發(fā)生變化，為了補(bǔ)償這一變化，超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器，當(dāng)探頭向處理器發(fā)送反射信號的同時，也把溫度信號送到微處理器，處理器將自動補(bǔ)償由于溫度對料位測量的影響。
此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環(huán)境溫度不超過60℃。
(2)攪拌器對物位計測量的影響
如果物料容器內(nèi)裝攪拌器，它同樣會反射超聲波信號，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計學(xué)原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應(yīng)至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當(dāng)降低攪拌器的轉(zhuǎn)速，或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對料位測量的影響。
應(yīng)用Prosonic T 適用于對液體及顆粒料位進(jìn)行非接觸式連續(xù)物位測量的一體化儀表。有兩種不同測量范圍的變送器可供選擇。
安裝指導(dǎo)·安裝探頭時，應(yīng)保證zui高物位在盲區(qū)以下，探頭端面應(yīng)伸入罐內(nèi)。(加安裝管時例外)
·注意安裝角探頭應(yīng)與物面垂直避開加料扇區(qū)
·不可在一個罐內(nèi)同時安裝兩個Prosonic T
·不能將探頭安裝于罐中心
德國E+H（endress hauser）超聲波物位計FMU30-1020/0加接管安裝
·若被測高位位于盲區(qū)范圍，一體化超聲波探頭必須安裝在加接管上。
·加接管上避免形成冷凝和粘結(jié)。
·加接管內(nèi)表面盡可能光滑(無焊縫和接縫)。
·加接管長度可變，但要受到限制，加接管直徑同樣有一定要求。
加接管安裝
·若被測高位位于盲區(qū)范圍，一體化超聲波探頭必須安裝在加接管上。
·加接管上避免形成冷凝和粘結(jié)。
·加接管內(nèi)表面盡可能光滑(無焊縫和接縫)。
·加接管長度可變，但要受到限制，加接管直徑同樣有一定要求。
FMU30-1020/0干擾抑制：固定目標(biāo)抑制功能可以對內(nèi)罐設(shè)施引起的干擾回波進(jìn)行校正，剔除。從探頭發(fā)出的脈沖聲波在其傳播過程中不斷發(fā)散，所有位于其傳播通道中的物體皆都引發(fā)干擾回波。
盲區(qū)：探頭聲波的起振周期決定了探頭表面下的某一區(qū)域的回波無法檢測到，這便是盲區(qū)，它決定了探頭和zui高物位的zui小間距。(參見技術(shù)參數(shù)) FMU30系列新款推出E+H超聲波物位計