2019年5月31日鉑悅儀器在成都天府麗都喜來登飯店舉辦“材料表面分析研討會(huì).成都站"取得圓滿成功。

此次研討會(huì)由市場(chǎng)部經(jīng)理陳紅主持，她對(duì)百忙之中抽來參加研討會(huì)的各位專家、客戶表示誠摯的感謝，并介紹了此次研討會(huì)的議程和參會(huì)嘉賓。
      鉑悅儀器對(duì)公司的發(fā)展做了介紹，目前公司所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測(cè)儀器和生產(chǎn)設(shè)備，以及配套的耗材和配件，這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、工業(yè)、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、生物、能源、電子、石化等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、及政府部門等。此外公司更注重培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術(shù)和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，本著客戶至上的原則，從客戶的實(shí)際需求出發(fā)，鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制適合的綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù)，由此也獲得了廣大客戶的信任與。

市場(chǎng)部經(jīng)理陳紅致歡迎詞                             總經(jīng)理蘇總做公司介紹

中國(guó)區(qū)應(yīng)用經(jīng)理 黃鶴 博士“布魯克納米表面儀器技術(shù)進(jìn)展與應(yīng)用案例"演講。（左圖）

布魯克布魯克XMA中國(guó)區(qū)經(jīng)理  嚴(yán)祁祺博士做“布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀在材料行業(yè)的應(yīng)用"演講。（右圖）

儀器演示與答疑技術(shù)交流

會(huì)議期間公司給大家準(zhǔn)備了豐富的茶歇和儀器演示環(huán)節(jié)，在享受美食的同時(shí)參與儀器演示操作，公司一直秉承客戶至上的優(yōu)良傳統(tǒng)，舉辦這樣的研討會(huì)主要是為業(yè)內(nèi)提供一個(gè)相互交流的平臺(tái)，希望通過這樣的活動(dòng)來回饋新老客戶。公司還將定期或不定期舉辦技術(shù)交流會(huì)，并配備有專業(yè)的應(yīng)用專家，為用戶提供持續(xù)的產(chǎn)品應(yīng)用支持。

【展示儀器】

德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）

德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡(jiǎn)易，檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

光學(xué)輪廓儀 Contour GT

適用范圍廣，滿足各種需求

Contour GT具有行業(yè)領(lǐng)xian的測(cè)量范圍及適應(yīng)性，能完成從粗糙界面到光滑界面，硬到軟，粘性的，可撓曲或其他難以測(cè)量表面的三維形貌測(cè)量。其直觀用戶界面和廣泛的自動(dòng)功能，Contour GT測(cè)量?jī)x能夠通過自定義來滿足基弧測(cè)量應(yīng)用。

微區(qū)X射線熒光光譜儀  M4 TORNADO

微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對(duì)不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的方法。
M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了佳的分析性能和非常方便的操控性。
·  采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，照射光斑小，空間分辨率高。
·  渦輪增速X-Y-Z樣品臺(tái)，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中"進(jìn)行元素分布分析。
·  通過可選的雙X射線光管和多6個(gè)濾光片進(jìn)行靈活的激發(fā)。
·  使用XFlash®探測(cè)器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個(gè)探測(cè)器可以進(jìn)一步提高測(cè)量速度。
·  基于無標(biāo)樣分析法定量分析塊狀樣品，分析多層膜樣品。
·  具有便捷進(jìn)樣功能的可抽真空的樣品室

納米壓痕儀 Hysitron TI 980

海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克的納米力學(xué)測(cè)試設(shè)備，同時(shí)具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。TI 980納米壓痕儀是布魯克的海思創(chuàng)納米壓痕設(shè)備的新一代產(chǎn)品。它建立在幾十年的技術(shù)創(chuàng)新上，提供了納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征領(lǐng)域全新水平的非凡性能、能力和功能。