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絕緣電阻測(cè)試儀的測(cè)試方法是什么？
絕緣電阻測(cè)試儀（也稱為智能雙顯絕緣電阻測(cè)試儀）共有三種類型的用于測(cè)量絕緣電阻的測(cè)試，每種測(cè)試都采用其自己的方法，重點(diǎn)放在被測(cè)設(shè)備的特定絕緣特性上。用戶需要選擇測(cè)試要求的一種。
點(diǎn)測(cè)試：此測(cè)試適用于電容效應(yīng)較小或可忽略的設(shè)備，例如短接線。
在較短的時(shí)間間隔內(nèi)施加測(cè)試電壓，直到達(dá)到穩(wěn)定的讀數(shù)為止，或者在固定的時(shí)間段（通常為60秒或更短）內(nèi)施加測(cè)試電壓。在測(cè)試結(jié)束時(shí)收集讀數(shù)。對(duì)于歷史記錄，將基于讀數(shù)的歷史記錄繪制圖表。對(duì)趨勢(shì)的觀察是在一段時(shí)間內(nèi)進(jìn)行的，通常是數(shù)年或數(shù)月。
此測(cè)試通常是針對(duì)測(cè)試或歷史記錄執(zhí)行的。溫度和濕度的變化可能會(huì)影響讀數(shù)，必要時(shí)必須進(jìn)行補(bǔ)償。
絕緣電阻測(cè)試儀
耐時(shí)測(cè)試：該測(cè)試適用于旋轉(zhuǎn)機(jī)械的預(yù)測(cè)性和預(yù)防性維護(hù)。
在特定時(shí)間（通常每隔幾分鐘）獲取連續(xù)的讀數(shù)，并比較讀數(shù)的差異。良好的絕緣將顯示電阻值的持續(xù)增加。如果讀數(shù)停滯不前，且讀數(shù)未如預(yù)期那樣增加，則絕緣可能較弱，可能需要引起注意。潮濕且受污染的絕緣體可能會(huì)降低電阻讀數(shù)，因?yàn)樗鼈儠?huì)增加測(cè)試期間的泄漏電流。只要在被測(cè)器件中沒(méi)有明顯的溫度變化，溫度對(duì)該測(cè)試的影響就可以忽略不計(jì)。
極化指數(shù)（PI）和介電吸收比（DAR）通常用于量化耐時(shí)測(cè)試結(jié)果。
極化指數(shù)（PI）
極化指數(shù)定義為10分鐘電阻值與1分鐘電阻值之比。建議將AC，DC旋轉(zhuǎn)機(jī)械在B，F(xiàn)和H類溫度下的PI的小值設(shè)為2.0，而對(duì)于A類設(shè)備的PI的小值應(yīng)為2.0 。
注意：某些新的絕緣系統(tǒng)對(duì)絕緣測(cè)試的響應(yīng)速度更快。它們通常從GΩ范圍的測(cè)試結(jié)果開(kāi)始，得出PI在1和2之間。在這些情況下，可以忽略PI計(jì)算。如果1分鐘絕緣電阻高于5GΩ，則計(jì)算出的PI可能沒(méi)有意義。
階躍電壓測(cè)試：當(dāng)設(shè)備的額定電壓高于絕緣電阻測(cè)試儀產(chǎn)生的可用測(cè)試電壓時(shí)，此測(cè)試特別有用。
逐步將不同的電壓電平施加到被測(cè)設(shè)備。建議的測(cè)試電壓比率為1：5。每個(gè)步驟的測(cè)試時(shí)間相同，通常為60秒，從低到高。此測(cè)試通常在低于設(shè)備額定電壓的測(cè)試電壓下使用。測(cè)試電壓電平的快速增加會(huì)在絕緣上產(chǎn)生額外的應(yīng)力，并使弱點(diǎn)失效，從而導(dǎo)致較低的電阻值。
測(cè)試電壓選擇
由于絕緣電阻測(cè)試由高直流電壓組成，因此必須選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試電壓，以避免對(duì)絕緣施加過(guò)大的應(yīng)力，否則可能導(dǎo)致絕緣故障。測(cè)試電壓也可能根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)而變化。