NDK日本電色工業(yè)光澤度儀PG-Ⅱ/ⅡM PG-2

NDK日本電色工業(yè)光澤度儀PG-Ⅱ/ⅡM PG-2

 NDK日本電色工業(yè) PG-Ⅱ/ⅡM PG-2 光澤度儀

ハンディ型光沢計(jì)

PG-Ⅱ/ⅡM

手持式光澤度儀PG-Ⅱ/ⅡM

PG-Ⅱ/ⅡMは、JIS?ISO、ASTM、DINなど各種工業(yè)規(guī)格の光沢度測定方法に準(zhǔn)拠した、軽量?コンパクトで持ち運(yùn)びが可能なハンディ型光沢計(jì)です。PG-Ⅱは20°?45°?60°?75°?85°のいずれか単角度を測定、PG-ⅡMは20°?60°?85°の3角度の光沢を同時に測定できます。なお、本器は、RS-232CインターフェイスでPCなどの外部接続裝置から遠(yuǎn)隔操作し、ラインセンサとして利用することも可能です。

特長

軽量?コンパクトで持ち運(yùn)びが可能なハンディ型光沢計(jì)。

ダブルビーム方式を採用しているため、ウォームアップ時間が不要。

自動感度切り換え機(jī)能搭載により、鏡面?高光沢試料でも瞬時に測定。

基準(zhǔn)値設(shè)定?平均値測定など、様々な測定機(jī)能を搭載。

本體內(nèi)蔵メモリに測定値400データを記憶。

RS-232Cインターフェイスで外部接続裝置から遠(yuǎn)隔操作もできる。

専用プリンターやデータ受信ソフトも使用可能（オプション）。

 M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合，可在紅外線下實(shí)
現(xiàn)可見光下做不到的非破壞性檢查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量
★MEMS內(nèi)部的非破壞評價(jià)、三維安裝評價(jià)
★半導(dǎo)體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評價(jià)傳感器
★紅外分光特性分析