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SmartScan 350-EMC
SmartScan 350-EMC系統(tǒng)包含EMI和ESD掃描功能。其他掃描技術(shù)作為選配提供。
I. 硬件
· 硬件通用于API所有XY平面掃描技術(shù)
· API設(shè)計和制造的硬件部件有:探頭、TLP(傳輸線脈沖發(fā)生器)、Failure Detection Module(FD,自動故障檢測模塊)等。
Items | Descriptions |
尺寸 | · 26" x 23.6" x 30" (66 cm X 60 cm X 76 cm) |
重量 | · 35 kg |
主要器件
| · 機械臂和控制器 · 機械臂底座 – 表面陽極電鍍過的鋁合金 · 掃描板 - 27" x 25" and 3/4" (68.6 cm X 63.5 cm X 1.9 cm)厚的石木板(紙和樹脂,無金屬) · 梳妝波發(fā)生器 (10 MHz ~ 2.5 GHz) · 攝像頭和探頭 · 接觸傳感器 · EMI用線纜或ESD用高壓線 · 探頭: o EMI 基礎(chǔ)探頭 - Hx-2mm (up to 9 GHz) Hx-5mm (up to 4 GHz) Hz-4mm (up to 4 GHz) o ESD 基礎(chǔ)探頭 - Hx-2mm Hx-5mm Hz-8mm Ez-8mm o CSP基礎(chǔ)探頭 - Hx-2mm · 控制電腦 |
EMI僅有的 | · RF 放大器, 安裝支架和直流電源線 |
ESD僅有的 | · TLP - +/- 200 V ~ +/- 8,000 V, < 350 pSec rise time · 自動故障檢測模塊(自選項) – 4個模擬、4個數(shù)字和1個光學(xué)傳感器信號監(jiān)控能力 |
機械臂 | · Epson LS3 (或同等級別) o 400mm臂長, 四軸SCARA robot (x-、 y- 、z-和z軸旋轉(zhuǎn)) o 30 um 機械臂準確性 o 更長的機械臂可供選擇(比如550mm) · 機械臂只有極少到無的RF干擾 |
掃描板 | · 放置DUT的掃描版由不會電反射的材料制成(非金屬) |
集成梳妝波發(fā)生器 | · 10 MHz間隔,最高2.5 GHz · 用于自動電子X-Y偏移校正 · 時域相位測量的系統(tǒng)因子提取源 · 驗證系統(tǒng)的獨立源 · 可用作培訓(xùn)的DUT |
集成攝像頭 | · 攝像頭 · 鏡頭 · 拍攝DUT圖片,自動將測量數(shù)據(jù)疊加在DUT圖片上 · 在DUT圖片上設(shè)置掃描區(qū)域 |
接觸傳感器 | · 測量探頭著陸位置處DUT或DUT上元件的高度 · 支持沿DUT元件輪廓的高度進行掃描 |
伸縮式的Z方向移動 | · 伸縮式的防撞設(shè)計,探頭接觸到DUT表面后,機械手臂僅施加探頭重量 |
RF 放大器 (僅EMI) | · 易裝易卸的RF放大器支架 · 兩個常用RF放大器- ZX60-6013E+ (20 MHz ~ 6 GHz, 15 dB gain at 1 GHz)串聯(lián) · 可以選配不同放大器(價格不同)。聯(lián)系我們了解更多信息 |
線纜 | · 散發(fā)型- 120" coax with SMA and N connectors 16" and 28" coax with SMA at both ends · 注入型- 120" coax with SMA and SHV connectors 28" coax with SMA at both ends |
II. 用于ESD掃描的設(shè)備
· ESD掃描需要兩種特定設(shè)備:TLP(傳輸線脈沖發(fā)生器)和FD模塊(自動故障檢測模塊)
TLP (Transmission Line Pulser) | · 輸出電壓(負載開路時) o +/- 200 V ~ +/- 8,000V o 獨立的+ve 和 -ve 電源
· 波形 o 快速上升時間(< 350 皮秒)、5 納秒穩(wěn)定時間和慢速下降時間(> 10 納秒),以防止故障發(fā)生在上升或下降時
· 高壓輸出端 o 前后側(cè)輸出端口 o 40 dB衰減輸出端口作為CS(current spreading)掃描的觸發(fā)源
· 模式控制 o 單次, 連發(fā), 遠程 · 脈沖率 o 1 ~ 26 每秒 |
自動故障檢測模塊 (FD Module) | · 信號監(jiān)控能力 o 四個模擬信號 o 四個數(shù)字信號 o 兩個光學(xué)傳感器輸出
· 信號采樣率高達250 kHz · 兩個繼電器用于控制DUT電源循環(huán) · 腳本定義自動故障檢測、DUT 電源循環(huán)、和數(shù)據(jù)記錄 |
III. 軟件
· API 自行開發(fā)軟件
· API開發(fā)的軟件:SmartScan,靈活性高、用戶友好且非??煽?/span>
多種掃描技術(shù) | · 在同一硬件和軟件平臺上集成多種掃描技術(shù) o 抗擾(Immunity)掃描技術(shù): - Electro-static Discharge (ESD) 靜電放電測試 - RF immunity (RFI) RF抗擾測試 - Current spreading scan (CSP) 電流分布測試 - Resonance scan (RES) 共振測試
o 放射(Emission)掃描技術(shù): - Electro-magnetic Interference (EMI)電磁干擾測試 - Field calculation 場的轉(zhuǎn)換 - Phase measurement (PMS)相位測量--寬頻, 自動化的 - NF to FF transformation (NFFF) 近遠場轉(zhuǎn)換 - Emission Source Microscopy (ESM)放射源顯微鏡術(shù) |
掃描區(qū)域編輯器 Scan area editor (SAE) | · 用集成攝像頭拍攝 DUT 的照片,并將其自動導(dǎo)入到 SmartScan中以定義掃描區(qū)域 · 定義掃描區(qū)域方式: 1) 在攝像頭拍攝的DUT照片上方定義 2) 在導(dǎo)入的DUT照片上定義 3) 在導(dǎo)入的layout files (ODB++)上定義 · 掃描區(qū)域可定義為多種形狀:點、線、矩形等,或沿輪廓??梢栽谕粋€項目里定義不同的掃描區(qū)域和掃描高度 · 可以靈活拖曳掃描區(qū)域 · 掃描區(qū)域調(diào)整 o 可以通過抓住角點或整條邊界線對初定義的掃描區(qū)域進行微調(diào) o 可以通過剪切某些點或區(qū)域來跳過某些點的掃描 · 掃描步進可由數(shù)列定義或點之間的距離定義 · 多張照片拼接——當DUT太大而無法在一張照片中全部體現(xiàn)時,軟件會拍攝多張照片并將它們拼接在一起生成完整的DUT圖片 · PCB 布局導(dǎo)入——可在導(dǎo)入的PCB layout文件(ODB++)上定義掃描區(qū)域,掃描結(jié)果會疊加顯示在layout上 |
場分量 | · 可選X方向掃描(0°)、Y方向(90°)掃描或兩者都掃 · 任何用戶定義的角度掃描,比如30°或40° |
儀器設(shè)置 | · 儀器(SA,VNA,示波器,信號發(fā)生器或TLP)的關(guān)鍵參數(shù)都可在SmartScan v5中設(shè)置 · 也可以直接在儀器上設(shè)置好參數(shù)之后,讓SmartScan讀取 |
掃描設(shè)置導(dǎo)向 | · 指導(dǎo)用戶逐步完成掃描設(shè)置,以避免犯錯誤或遺漏步驟。除非定義了每個必要的步驟,否則軟件不允許啟動掃描 |
元件庫 | · 硬件元件(放大器、線纜、探頭等)的S21數(shù)據(jù)都被儲存在元件庫。這些數(shù)據(jù)可以對測量值進行損耗或增益校正 · 可用S21數(shù)據(jù)快速計算系統(tǒng)因子 · 每個探頭的頻率響應(yīng)都儲存在元件庫 |
數(shù)據(jù)處理 (或后處理) | · 可對掃描數(shù)據(jù)使用公式,如三角函數(shù)、指數(shù)函數(shù)、對數(shù)等常見數(shù)學(xué)公式進行運算 · 系統(tǒng)因子用于場的計算。把儀器測到的值在電中心高度(in dBm)轉(zhuǎn)換成場值 · 可合并兩或三個場分量 · 原始數(shù)據(jù)以txt格式被導(dǎo)出以進行下一步分析 |
數(shù)據(jù)可視化 | · 測量值疊在DUT圖片上 · 點——每個測量點的顏色根據(jù)測量值變化 · 面——在點之間進行插值運算以顯示測量值的平滑過渡和分布 · 3D 圖 · 峰值搜索 · 追蹤點 · 透明度調(diào)整,可查看測量數(shù)據(jù)下方的DUT圖片 |
圖形工具 | · 多個項目的繪圖可以在一個圖形窗口中顯示 · 每個圖可以被分別打開和關(guān)閉 |
IV. 探頭
· API從設(shè)計、制作以及測試探頭都在API實驗室完成。
· API擁有超過100種不同的探頭設(shè)計,其中25種探頭作為標準探頭搭配系統(tǒng)使用。
· 可提供探頭定制服務(wù),詳情咨詢API。
· 以下探頭信息主要針對輻射測量探頭(EMI 探頭)
場分量 | · 探頭測量所有6個分量:Hx、Hy、Hz、Ex、Ey和Ez |
頻率范圍 | · 覆蓋50 kHz到40+ GHz · 測量能力可至50 kHz以下 |
探頭特性描述 | · 探頭的特性測試在常用的、實際的掃描條件下進行 · 想測的場分量和不需要測的場分量有最少20dB的差別* · 列出詳細的特性測試步驟和測試條件,以便用戶能重現(xiàn)測試結(jié)果 · 完整的探頭特性報告
* 對于某些高頻探頭,小于20dB的差別是可接受的
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