ES640充電器件模型（CDM）測(cè)試系統(tǒng)

1.描述

充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見(jiàn)原因。較低電壓下的CDM放電會(huì)嚴(yán)重?fù)p壞或損毀靈敏設(shè)備。當(dāng)帶靜電的設(shè)備以不同的電位接觸金屬表面時(shí)，通常會(huì)發(fā)生這種情況。這種靜電放電通常具有非?？斓纳仙龝r(shí)間。

ES640是一款自動(dòng)化的CDM測(cè)試儀，可滿足所有流行的CDM測(cè)試方法，支持場(chǎng)感應(yīng)空氣放電方法（FICDM）和接觸放電（LI-CCDM, CC-TLP, RP-CCDM）方法。本測(cè)試系統(tǒng)包含計(jì)算機(jī)、環(huán)境控制室、精確的XYZ運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)、不同類型的CDM測(cè)試儀頭以及自動(dòng)測(cè)試和數(shù)據(jù)分析軟件。

以下是ESDEMC ES640 CDM解決方案與其他解決方案的比較，包括Thermo Scientific Orion3 CDM測(cè)試儀、Hanwa HED-C5000R等。

2.特點(diǎn)

• 高分辨率攝像頭（可多達(dá)3個(gè)）可輕松進(jìn)行引腳對(duì)齊操作

• 高分辨率運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)（步長(zhǎng)低至1 µm）

• 允許批量測(cè)試多個(gè)設(shè)備

• 正在申請(qǐng)的CCDM方法具有更好的可重復(fù)性

• 密閉的環(huán)境室提高了干燥單元的效率

• 支持再生干燥單元（無(wú)需氮?dú)猓?/p>

3.應(yīng)用

• 用于封裝和晶圓級(jí)測(cè)試的通用CDM系統(tǒng)

• 支持許多流行的最新CDM方法：

• ANSI/ESDA/JEDEC JS-002(FICDM)

• AEC Q100-011 Rev-D (遵循JS-002)

• AEC Q101-005 Rev-A (遵循 JS-002)

• ANSI/ESD SP5.3.3 (LI-CCDM, 需要vf-TLP)

• CC-TLP (待批準(zhǔn)的ESDA SP, 需要vf-TLP)

• 我司申請(qǐng)中的RP-CCDM方法

• 可根據(jù)客戶要求提供已停用或定制的解決方案

• 機(jī)器人帶電板模型(CBM）和平板ESD測(cè)試可自定義尺寸

4.規(guī)格

5.訂購(gòu)信息