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ES62X-LVS-500-ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)

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貨物所在地：湖南長沙市

所在地：美國

更新時(shí)間：2024-06-26 21:00:05

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器件級靜電放電解決方案: TLP傳輸線脈沖測試系統(tǒng) ESD測試儀(HBM、HMM、MM) ESD靜電和閂鎖測試系統(tǒng) CDM充電器件模型測試機(jī) LVS低壓浪涌系統(tǒng) 傳輸線脈沖發(fā)生器過電應(yīng)力模擬發(fā)生器 ES631-以太網(wǎng)線纜放電（CDE）測評系統(tǒng)

系統(tǒng)級靜電放電解決方案: 靜電放電模擬器空氣式靜電放電工作臺(tái) 高阻高壓表靜電槍校準(zhǔn)電流靶和適配器電纜放電測評系統(tǒng)（CDE） E0S測試脈沖發(fā)生器 ESD測試環(huán)境

EMC自動(dòng)化掃描測試方案: EMC掃描測試方案 ESD掃描測試方案

光器件測試系統(tǒng)

光通訊測試設(shè)備和測試系統(tǒng)

可編程直流電源

四路源表

半導(dǎo)體測試設(shè)備: FS-Por

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產(chǎn)品簡介詳細(xì)介紹

ES62X-LVS 型低壓浪涌系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝級器件的浪涌敏感度測試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測量和靜態(tài)IV曲線測試功能，便于確定被測器件的ESD損傷閾值。

1.描述

脈沖發(fā)生器的設(shè)計(jì)和脈沖輸出方法保證了被測器件端的波形性能。系統(tǒng)能夠獲取浪涌脈沖注入時(shí)的的瞬態(tài)電流和電壓波形，用于分析包括ESD保護(hù)器件開啟電壓等級在內(nèi)的被測器件ESD特性。通過對比脈沖注入時(shí)的電壓波形變化，還能夠判定故障等級。

2.特點(diǎn)

1V至500V電壓范圍內(nèi)波形干凈，線性度高
*隔離的放電電路
軟件控制，自動(dòng)化測量
損傷閾值自動(dòng)監(jiān)測（DC漏電測量及靜態(tài)IV掃描）

3.應(yīng)用

基于IEC61000-4-5 8 /20μs標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行電源，驅(qū)動(dòng)PCB，通信系統(tǒng)，LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測試
進(jìn)行晶圓，封裝和PCB級的浪涌脈沖敏感度測試
10 /1000μs波形的晶圓，封裝，PCB和系統(tǒng)級浪涌敏感度和抗擾度測試

4.規(guī)格

參數(shù)	LVS-500-8/20 選項(xiàng)	LVS-500-10/1000 選項(xiàng)	單位
輸出電壓（開路負(fù)載）	1 – 500	1 – 500	V
輸出電流（短路負(fù)載）	0.5 – 250	0.12 – 55	A
輸出精度	± 5 %	± 5 %	%
輸出電阻	2 ± 10%	9 ± 10%	?
短路電流波前時(shí)間	8 ± 20 %	10 – 40 %	µs
短路電流半峰值時(shí)間	20 ± 20 %	1000 +20 %	µs
開路電壓波前時(shí)間	1.2 ± 30 %	10 – 40 %	µs
開路電壓半峰值時(shí)間	50 ± 20 %	1000 +50 %	µs
尺寸	347 X 300 X 145		mm
重量	12		kg
電壓探頭	無源電壓探頭, 101:1
電流探頭	無源電流探頭, 0.1 V/A