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湖南格雷柏電子科技有限公司
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SmartScan 350-EMC

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌API/Amber Precision Instruments

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地深圳市

更新時間:2024-09-23 16:24:19瀏覽次數(shù):405次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口
SmartScan 350-EMC在同一硬件和軟件平臺上集成多種掃描技術(shù):EMI電磁干擾、Field calculation電磁場轉(zhuǎn)換、(PMS)相位測量、(NFFF) 近遠(yuǎn)場轉(zhuǎn)換、(ESM)放射源顯微鏡術(shù)、ESD靜電放電、電流擴(kuò)散分布測試、RF抗擾測試、(RES) 共振測試。

SmartScan 350-EMC系統(tǒng)包含EMI和ESD掃描功能,其他掃描技術(shù)作為選配提供。

硬件:

硬件通用于API所有XY平面掃描技術(shù)。

API設(shè)計(jì)和制造的硬件部件有:探頭、TLP(傳輸線脈沖發(fā)生器)、Failure Detection Module(FD,自動故障檢測模塊)等。  

Items

Descriptions

尺寸

26"x23.6"x30" (66cmX60cmX76cm)

重量

35kg

主要器件


機(jī)械臂和控制器  

機(jī)械臂底座–表面陽極電鍍過的鋁合金

掃描板-27"x25"and3/4" (68.6cmX63.5cmX1.9cm)厚的石木板(紙和樹脂,無金屬)

梳妝波發(fā)生器 (10MHz~2.5GHz)

攝像頭和探頭  

接觸傳感器  

EMI用線纜或ESD用高壓線

探頭:

EMI基礎(chǔ)探頭

Hx-2mm (up to 9GHz)

Hx-5mm (up to 4GHz)

Hz-4mm (up to 4GHz)

ESD基礎(chǔ)探頭

Hx-2mm

Hx-5mm

Hz-8mm

Ez-8mm

CSP基礎(chǔ)探頭-Hx-2mm

控制電腦  

EMI僅有的

RF放大器,安裝支架和直流電源線

ESD僅有的

TLP-+/-200V~+/- 8,000V,< 350pSec rise time

自動故障檢測模塊(自選項(xiàng)) – 4個模擬、4個數(shù)字和1個光學(xué)傳感器信號監(jiān)控能力

機(jī)械臂

Epson LS3 (或同等級別)

400mm臂長,四軸SCARA robot (x-、 y- 、z-和z軸旋轉(zhuǎn))

30um機(jī)械臂準(zhǔn)確性

更長的機(jī)械臂可供選擇(比如550mm)

機(jī)械臂只有極少到無的RF干擾

掃描板

放置DUT的掃描版由不會電反射的材料制成(非金屬)  

集成梳妝波發(fā)生器

10MHz間隔,最高2.5GHz

用于自動電子X-Y偏移校正

時域相位測量的系統(tǒng)因子提取源

驗(yàn)證系統(tǒng)的獨(dú)立源

可用作培訓(xùn)的DUT

集成攝像頭

攝像頭

鏡頭

拍攝DUT圖片,自動將測量數(shù)據(jù)疊加在DUT圖片上

在DUT圖片上設(shè)置掃描區(qū)域

接觸傳感器

測量探頭著陸位置處DUT或DUT上元件的高度

支持沿DUT元件輪廓的高度進(jìn)行掃描

伸縮式的Z方向移動

伸縮式的防撞設(shè)計(jì),探頭接觸到DUT表面后,機(jī)械手臂僅施加探頭重量

RF放大器

(僅EMI)

易裝易卸的RF放大器支架

兩個常用RF放大器- ZX60-6013E+ (20MHz~6GHz, 15dB gain at 1GHz)串聯(lián)

可以選配不同放大器(價格不同)。聯(lián)系我們了解更多信息

線纜

散發(fā)型

120" coax with SMA  and N connectors

16" and 28" coax with SMA at both  ends

注入型

120" coax with SMA  and SHV connectors

28" coax with SMA at both ends



 用于ESD掃描的設(shè)備

ESD掃描需要兩種特定設(shè)備:TLP(傳輸線脈沖發(fā)生器)和FD模塊(自動故障檢測模塊)

TLP

(Transmission Line Pulser)

輸出電壓(負(fù)載開路時)

+/-200V~+/- 8,000V

獨(dú)立的+ve和-ve電源

波形  

快速上升時間(< 350皮秒)、5納秒穩(wěn)定時間和慢速下降時間(>10納秒),以防止故障發(fā)生在上升或下降時

高壓輸出端  

前后側(cè)輸出端口

40dB衰減輸出端口作為CS(current spreading)掃描的觸發(fā)源

模式控制  

單次,連發(fā),遠(yuǎn)程

脈沖率  

1~26每秒

自動故障檢測模塊

(FD Module)  

信號監(jiān)控能力

四個模擬信號

四個數(shù)字信號

兩個光學(xué)傳感器輸出

信號采樣率高達(dá)250kHz

兩個繼電器用于控制DUT電源循環(huán)

腳本定義自動故障檢測、DUT電源循環(huán)、和數(shù)據(jù)記錄


軟件

API自行開發(fā)軟件

API開發(fā)的軟件:SmartScan,靈活性高、用戶友好且非??煽?/p>

多種掃描技術(shù)

在同一硬件和軟件平臺上集成多種掃描技術(shù)

抗擾(Immunity)掃描技術(shù):

- Electro-static Discharge (ESD) 靜電放電測試

- RF immunity (RFI) RF抗擾測試

- Current spreading scan (CSP) 電流分布測試

- Resonance scan (RES) 共振測試

放射(Emission)掃描技術(shù):

- Electro-magnetic Interference (EMI)電磁干擾測試

- Field calculation場的轉(zhuǎn)換

- Phase measurement (PMS)相位測量--寬頻,自動化的

- NF to FF transformation (NFFF) 近遠(yuǎn)場轉(zhuǎn)換

- Emission Source Microscopy (ESM)放射源顯微鏡術(shù)

掃描區(qū)域編輯器

Scan area editor (SAE)

用集成攝像頭拍攝DUT的照片,并將其自動導(dǎo)入到SmartScan中以定義掃描區(qū)域

定義掃描區(qū)域方式:

1)  在攝像頭拍攝的DUT照片上方定義

2)  在導(dǎo)入的DUT照片上定義

3)  在導(dǎo)入的layout files (ODB++)上定義

掃描區(qū)域可定義為多種形狀:點(diǎn)、線、矩形等,或沿輪廓??梢栽谕粋€項(xiàng)目里定義不同的掃描區(qū)域和掃描高度

可以靈活拖曳掃描區(qū)域

掃描區(qū)域調(diào)整

可以通過抓住角點(diǎn)或整條邊界線對初定義的掃描區(qū)域進(jìn)行微調(diào)  

可以通過剪切某些點(diǎn)或區(qū)域來跳過某些點(diǎn)的掃描

掃描步進(jìn)可由數(shù)列定義或點(diǎn)之間的距離定義

多張照片拼接——當(dāng)DUT太大而無法在一張照片中全部體現(xiàn)時,軟件會拍攝多張照片并將它們拼接在一起生成完整的DUT圖片

PCB布局導(dǎo)入——可在導(dǎo)入的PCB layout文件(ODB++)上定義掃描區(qū)域,掃描結(jié)果會疊加顯示在layout上

場分量

可選X方向掃描(0°)、Y方向(90°)掃描或兩者都掃

任何用戶定義的角度掃描,比如30°或40°

儀器設(shè)置

儀器(SA,VNA,示波器,信號發(fā)生器或TLP)的關(guān)鍵參數(shù)都可在SmartScan v5中設(shè)置

也可以直接在儀器上設(shè)置好參數(shù)之后,讓SmartScan讀取

掃描設(shè)置導(dǎo)向

指導(dǎo)用戶逐步完成掃描設(shè)置,以避免犯錯誤或遺漏步驟

除非定義了每個必要的步驟,否則軟件不允許啟動掃描

元件庫

硬件元件(放大器、線纜、探頭等)的S21數(shù)據(jù)都被儲存在元件庫。這些數(shù)據(jù)可以對測量值進(jìn)行損耗或增益校正  

可用S21數(shù)據(jù)快速計(jì)算系統(tǒng)因子

每個探頭的頻率響應(yīng)都儲存在元件庫

數(shù)據(jù)處理

(或后處理)

可對掃描數(shù)據(jù)使用公式,如三角函數(shù)、指數(shù)函數(shù)、對數(shù)等常見數(shù)學(xué)公式進(jìn)行運(yùn)算

系統(tǒng)因子用于場的計(jì)算。把儀器測到的值在電中心高度(in dBm)轉(zhuǎn)換成場值

可合并兩或三個場分量

原始數(shù)據(jù)以txt格式被導(dǎo)出以進(jìn)行下一步分析

數(shù)據(jù)可視化

測量值疊在DUT圖片上

點(diǎn)——每個測量點(diǎn)的顏色根據(jù)測量值變化

面——在點(diǎn)之間進(jìn)行插值運(yùn)算以顯示測量值的平滑過渡和分布

3D圖

峰值搜索

追蹤點(diǎn)

透明度調(diào)整,可查看測量數(shù)據(jù)下方的DUT圖片

圖形工具

多個項(xiàng)目的繪圖可以在一個圖形窗口中顯示  

每個圖可以被分別打開和關(guān)閉


SmartScan 350-EMC探頭

API從設(shè)計(jì)、制作以及測試探頭都在API實(shí)驗(yàn)室完成。

API擁有超過100種不同的探頭設(shè)計(jì),其中25種探頭作為標(biāo)準(zhǔn)探頭搭配系統(tǒng)使用。  

可提供探頭定制服務(wù),詳情咨詢API。

以下探頭信息主要針對輻射測量探頭(EMI 探頭)

場分量

探頭測量所有6個分量:Hx、Hy、Hz、Ex、Ey和Ez

頻率范圍

覆蓋50kHz到40+GHz

測量能力可至50kHz以下

探頭特性描述

探頭的特性測試在常用的、實(shí)際的掃描條件下進(jìn)行

想測的場分量和不需要測的場分量有最少20dB的差別

列出詳細(xì)的特性測試步驟和測試條件,以便用戶能重現(xiàn)測試結(jié)果

完整的探頭特性報告

對于某些高頻探頭,小于20dB的差別是可接受的







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