詳細(xì)介紹
金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀 型號(hào):DRJ-I
該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法,于80°~900℃溫度范圍內(nèi)測(cè)量金屬無(wú)相變溫度下的導(dǎo)熱系數(shù),由計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成測(cè)試。滿足了材料檢測(cè)研究部門(mén)對(duì)金屬材料導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)試要求。儀器參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T3651-2008《金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量方法》。
金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀 主要技術(shù)指標(biāo)
1、 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍:5~400W/m·K;
2、 準(zhǔn)確度:優(yōu)于5%;
3、 對(duì)實(shí)驗(yàn)溫度實(shí)現(xiàn)可控狀態(tài)下的測(cè)試,電爐高溫度1000℃;
4、 電源:220V,50HZ;
5、 連接上位機(jī),實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試、實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出;
6、 試樣尺寸要求:棒狀試樣:Ф3-5×220(mm)
絲狀試樣:Ф1-3×20-45(mm)
產(chǎn)品名稱:數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào):SZT-1 |
數(shù)字式四探針測(cè)試儀型號(hào):SZT-1
SZT-1型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理 的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率,測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻(方塊電阻),換上特制的四探針測(cè)試夾,還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測(cè)量。此外,探針經(jīng)過(guò)特殊加工后,還可以測(cè)量薄膜材料電阻率。廣泛于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院?;瘜W(xué)物理系、科研單位,對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
本儀器測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針,定位準(zhǔn)確,游移率小,使用壽命長(zhǎng)。
SZT-1型數(shù)字式四探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
1. 測(cè)量范圍:
電阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導(dǎo)電類(lèi)型鑒別:電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸
直徑:φ15~100 mm
長(zhǎng)度:≤400mm
3. 測(cè)量方法:
軸向、斷面均可
4. 顯示方式:31/2,數(shù)顯,性、過(guò)載自動(dòng)顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。
5. 恒流源:
(1) 電流輸出:直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA
(3) 誤差:±0.5%讀數(shù)±2個(gè)字
6.四探針測(cè)試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機(jī)械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W
便攜式聲波測(cè)厚儀 聲波測(cè)厚儀 型號(hào):TT340 |