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當前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>鍍層厚度測試儀>> X-RAY測厚儀半導體集成電路鍍層厚度分析儀
X-RAY測厚儀
SKYRAY/天瑞儀器
生產(chǎn)商
蘇州市
更新時間:2024-08-16 15:01:00瀏覽次數(shù):354次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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應用領域 | 電子,冶金,航天,汽車,電氣 | 分辨率 | 140ev |
探測器 | FAST?SDD |
半導體集成電路鍍層厚度分析儀:
半導體集成電路鍍層厚度分析儀EDX 2000A全自動微區(qū)膜厚測試儀是集多年X熒光膜厚測量技術,專門研發(fā)的一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測厚設備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加優(yōu)異,更能很好地滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方,通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動 , 雙激光定位和保護系統(tǒng) , 實現(xiàn)對平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行快速對焦精準分析。
應用領域
電鍍行業(yè)
電子通訊
航天新能源
五金衛(wèi)浴
電器設備
汽車制造
磁性材料
貴金屬電鍍
高校及科研院所等
設計亮點
上照式設計,可適應更多異型微小樣品的測試。
全新的光路,更短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號采集效率提升2倍以上。
可變焦高精攝像頭,搭配距離補正系統(tǒng),不僅可適應微小產(chǎn)品,同時也兼顧了臺階,深槽,沉孔樣品的測試需求。
可編程多點測試,能自動完成對多個樣品多個點的測試,大大提高測樣效率。
自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng),讓您永遠不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔心。
超高硬件配置
電鍍層膜厚檢測儀采用進口高分辨率的FAST SDD探測器,高達140ev分辨率,能精準地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,優(yōu)勢巨大。
進口的高功率大高壓單元搭配進口大功率X光管,能很好的保障信號輸出與激發(fā)的穩(wěn)定性,同時,故障率也極大的降低。
高精度自動化的X軸,Y軸以及Z軸的三維聯(lián)動,更精準快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的定位。
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監(jiān)控,讓您的使用更加放心。
鍍層測厚儀主要功能
1、測量:單探頭全量程測厚,儀器自動補償偏差值。
2、數(shù)據(jù)管理: 通過分組的方式來管理存儲的數(shù)據(jù)。一共分6組,每組包含99個數(shù)據(jù)。 可以對任意一組數(shù)據(jù)進行查看、刪除、打印以及通信操作。
3、測量模式:包括常規(guī)測量模式和監(jiān)控測量模式兩類測量模式。可以在不同的工作現(xiàn)場下給用戶提供不同的使用方式,以解決現(xiàn)場的需求。
a、常規(guī)測量
測量時儀器只顯示測量數(shù)據(jù)的基本信息,能夠滿足用戶最基本的測量需要。
b、最小值捕捉
測量數(shù)據(jù)時,儀器會自動捕捉到最小的測量值。如果工廠驗收以樣品的最小厚度值為檢驗標準的話,那么這種測量模式無疑是選擇。
c、統(tǒng)計測量
在這種模式下,儀器的功能欄里會同時顯示出測量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測量次數(shù)。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,進而對現(xiàn)場工件的優(yōu)劣情況進行實時的觀測。
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