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蘇州福佰特儀器科技有限公司
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當(dāng)前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>鍍層厚度測試儀>> X-RAY測厚儀半導(dǎo)體集成電路鍍層厚度分析儀

半導(dǎo)體集成電路鍍層厚度分析儀

參  考  價:105000 - 135000 /臺
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號

    X-RAY測厚儀

  • 品牌

    SKYRAY/天瑞儀器

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    蘇州市

更新時間:2024-08-16 15:01:00瀏覽次數(shù):431次

聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 10萬-20萬
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,冶金,航天,汽車,電氣 分辨率 140ev
探測器 FAST?SDD
半導(dǎo)體集成電路鍍層厚度分析儀EDX 2000A全自動微區(qū)膜厚測試儀是集多年X熒光膜厚測量技術(shù),專門研發(fā)的一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加優(yōu)異,更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。

半導(dǎo)體集成電路鍍層厚度分析儀:

半導(dǎo)體集成電路鍍層厚度分析儀EDX 2000A全自動微區(qū)膜厚測試儀是集多年X熒光膜厚測量技術(shù),專門研發(fā)的一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加優(yōu)異,更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方,通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動 , 雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng) , 實(shí)現(xiàn)對平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各種簡單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦精準(zhǔn)分析。

應(yīng)用領(lǐng)域

電鍍行業(yè)
電子通訊
航天新能源
五金衛(wèi)浴
電器設(shè)備
汽車制造
磁性材料
貴金屬電鍍
高校及科研院所等

設(shè)計(jì)亮點(diǎn)

上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試。
全新的光路,更短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號采集效率提升2倍以上。
可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時也兼顧了臺階,深槽,沉孔樣品的測試需求。
可編程多點(diǎn)測試,能自動完成對多個樣品多個點(diǎn)的測試,大大提高測樣效率。
自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng),讓您永遠(yuǎn)不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔(dān)心。

超高硬件配置

電鍍層膜厚檢測儀采用進(jìn)口高分辨率的FAST SDD探測器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個元素的特征信號,針對復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢巨大。
進(jìn)口的高功率大高壓單元搭配進(jìn)口大功率X光管,能很好的保障信號輸出與激發(fā)的穩(wěn)定性,同時,故障率也極大的降低。
高精度自動化的X軸,Y軸以及Z軸的三維聯(lián)動,更精準(zhǔn)快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點(diǎn)的定位。

軟件界面

人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實(shí)時監(jiān)控,讓您的使用更加放心。

鍍層測厚儀主要功能

  1、測量:單探頭全量程測厚,儀器自動補(bǔ)償偏差值。

  2、數(shù)據(jù)管理: 通過分組的方式來管理存儲的數(shù)據(jù)。一共分6組,每組包含99個數(shù)據(jù)。 可以對任意一組數(shù)據(jù)進(jìn)行查看、刪除、打印以及通信操作。

  3、測量模式:包括常規(guī)測量模式和監(jiān)控測量模式兩類測量模式??梢栽诓煌墓ぷ鳜F(xiàn)場下給用戶提供不同的使用方式,以解決現(xiàn)場的需求。

  a、常規(guī)測量

  測量時儀器只顯示測量數(shù)據(jù)的基本信息,能夠滿足用戶最基本的測量需要。

  b、最小值捕捉

  測量數(shù)據(jù)時,儀器會自動捕捉到最小的測量值。如果工廠驗(yàn)收以樣品的最小厚度值為檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的話,那么這種測量模式無疑是選擇。

  c、統(tǒng)計(jì)測量

  在這種模式下,儀器的功能欄里會同時顯示出測量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測量次數(shù)。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,進(jìn)而對現(xiàn)場工件的優(yōu)劣情況進(jìn)行實(shí)時的觀測。

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