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X-RAY測厚儀
SKYRAY/天瑞儀器
生產(chǎn)商
蘇州市
更新時(shí)間:2024-08-16 15:01:00瀏覽次數(shù):352次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,冶金,航天,汽車,電氣 | 分辨率 | 140ev |
探測器 | FAST?SDD |
半導(dǎo)體鍍層膜厚分析儀:
半導(dǎo)體鍍層膜厚分析儀EDX 2000A全自動(dòng)微區(qū)膜厚測試儀是集多年X熒光膜厚測量技術(shù),專門研發(fā)的一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加優(yōu)異,更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方,通過自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng) , 雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng) , 實(shí)現(xiàn)對(duì)平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各種簡單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
電子通訊
航天新能源
五金衛(wèi)浴
電器設(shè)備
汽車制造
磁性材料
貴金屬電鍍
高校及科研院所等
設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試。
全新的光路,更短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上。
可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測試需求。
可編程多點(diǎn)測試,能自動(dòng)完成對(duì)多個(gè)樣品多個(gè)點(diǎn)的測試,大大提高測樣效率。
自帶數(shù)據(jù)校對(duì)系統(tǒng),讓您永遠(yuǎn)不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔(dān)心。
超高硬件配置
電鍍層膜厚檢測儀采用進(jìn)口高分辨率的FAST SDD探測器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢巨大。
進(jìn)口的高功率大高壓單元搭配進(jìn)口大功率X光管,能很好的保障信號(hào)輸出與激發(fā)的穩(wěn)定性,同時(shí),故障率也極大的降低。
高精度自動(dòng)化的X軸,Y軸以及Z軸的三維聯(lián)動(dòng),更精準(zhǔn)快速地完成對(duì)微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點(diǎn)的定位。
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用更加放心。
鍍層測厚儀主要功能
1、測量:單探頭全量程測厚,儀器自動(dòng)補(bǔ)償偏差值。
2、數(shù)據(jù)管理: 通過分組的方式來管理存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。一共分6組,每組包含99個(gè)數(shù)據(jù)。 可以對(duì)任意一組數(shù)據(jù)進(jìn)行查看、刪除、打印以及通信操作。
3、測量模式:包括常規(guī)測量模式和監(jiān)控測量模式兩類測量模式。可以在不同的工作現(xiàn)場下給用戶提供不同的使用方式,以解決現(xiàn)場的需求。
a、常規(guī)測量
測量時(shí)儀器只顯示測量數(shù)據(jù)的基本信息,能夠滿足用戶最基本的測量需要。
b、最小值捕捉
測量數(shù)據(jù)時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)捕捉到最小的測量值。如果工廠驗(yàn)收以樣品的最小厚度值為檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的話,那么這種測量模式無疑是選擇。
c、統(tǒng)計(jì)測量
在這種模式下,儀器的功能欄里會(huì)同時(shí)顯示出測量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測量次數(shù)。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,進(jìn)而對(duì)現(xiàn)場工件的優(yōu)劣情況進(jìn)行實(shí)時(shí)的觀測。
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