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目前，照明燈和液晶顯示屏的背光源均采用白色LED燈。因此，為了進(jìn)一步提升產(chǎn)品性能，Mini LED背光源和Micro LED顯示屏的研發(fā)正在緊鑼密鼓的進(jìn)行中。熒光分布成像系統(tǒng)(EEM® View)是用于觀察樣品圖像、獲取光譜的附件。入射光通過照射積分球內(nèi)壁，獲得均勻光源，進(jìn)而觀察樣品 。

利用日立F-7100分光光度計標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得熒光光譜，結(jié)合積分球下方的CMOS相機(jī)裝置拍攝圖像，并利用AI分光圖像處理系統(tǒng)，可以同時得到反射和熒光圖像。相信未來EEM® View會在LED零配件內(nèi)的熒光體光學(xué)特性評價中得到廣泛的應(yīng)用。

1. 熒光體樹脂片（50 mm×50 mm）的熒光特性

此次實驗測定了在面發(fā)光LED中使用的熒光體樹脂片。對樣品照射360～640nm的單色光，得到了樣品*的熒光特性。 EEM View模式下，可同時獲得不同光源條件的樣品圖像。通常，白色LED燈采用藍(lán)色LED作激發(fā)光源，在455nm附近激發(fā)，與580～650nm黃色～橙色的熒光混合形成白光（圖1）。由圖2、圖3可以看出，此次測定的樣品熒光體樹脂片，在藍(lán)色LED的455nm附近被激發(fā)，發(fā)出相當(dāng)于625nm的橙色熒光。

2. 熒光體樹脂片的結(jié)構(gòu)確認(rèn)（凝聚、分散狀態(tài)）（評價項目） 判斷樣品的凝聚、分散狀態(tài)

3. 熒光體樹脂片的分布均勻性確認(rèn)

 

圖為光學(xué)性能分布不均勻的位置的拍攝實例。熒光圖像可以看出熒光體的分布情況。此外，還可以通過不同位置計算出的熒光光譜，判斷樣品的熒光強(qiáng)度差異。對于熒光體分布不均勻的樣品（左圖），它的中心位置亮度偏高。而且從熒光光譜中可以看到，3 個位置的譜峰熒光強(qiáng)度大偏差15％。