TS MESSTECHNIK 輪廓測(cè)試儀 赤象工業(yè)代理
T&S在范圍內(nèi)提供檢測(cè)設(shè)備的制造商,為各種復(fù)雜程度的檢測(cè)需要,提供檢測(cè)方案和服務(wù)
傳統(tǒng)方案,X和Z測(cè)量軸在一個(gè)驅(qū)動(dòng)單元,導(dǎo)致有一些限制。
我們的方案是,X軸和Z軸分離X軸承擔(dān)工件夾持器移動(dòng)的功能,而Z軸于測(cè)針掃描移動(dòng),由于兩個(gè)軸均由電機(jī)控制,因此具有很大的優(yōu)勢(shì),無(wú)論輪廓的斜率如何,兩個(gè)軸均得到控制,得以保持輪廓掃描速度不變
德國(guó)T&S公司——輪廓測(cè)試儀、
主要產(chǎn)品:
輪廓測(cè)量系統(tǒng):CounturoMatic系列
TS輪廓測(cè)量?jī)x
GS / GM-X輪廓測(cè)量?jī)x
TS-X輪廓測(cè)量?jī)x
CV120輪廓測(cè)量?jī)x
CV300輪廓測(cè)量?jī)x
我們的產(chǎn)品線
對(duì)中夾具 UZ系列
外圓對(duì)中夾具 AZ系列
對(duì)中水平放置臺(tái) KZT系列
對(duì)中夾具 ZS系列
綜合支架 WSE系列
角度調(diào)整卡 WSF系列
棱柱支撐 WP/WPS系列
TS MESSTECHNIK 輪廓測(cè)試儀 赤象工業(yè)代理
ConturoMatic
一次測(cè)量輪廓和粗糙度
現(xiàn)代輪廓測(cè)量系統(tǒng)越來(lái)越能夠獲取和計(jì)算粗糙度特征。在具有較大梯度的輪廓線的粗糙度測(cè)試中,傳統(tǒng)的探測(cè)
方法和評(píng)估方法日益失敗。為了解決這個(gè)問題,我們的計(jì)算算法從一開始就基于正交回歸。該方法結(jié)合動(dòng)態(tài)速
度控制(確保數(shù)據(jù)點(diǎn)距離均勻),可實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量結(jié)果 - 即使在強(qiáng)烈彎曲的表面上。相反,在傳統(tǒng)解決
方案中,為了實(shí)現(xiàn)恒定的測(cè)量點(diǎn)距離,必須通過(guò)內(nèi)插生成實(shí)際上不存在的新測(cè)量點(diǎn)。
憑借ConturaMatic TS的可選粗糙度軟件更新,您的輪廓測(cè)量站成為特別強(qiáng)大的
表面測(cè)量系統(tǒng)。
所有常用參數(shù)都可以自動(dòng)測(cè)量和評(píng)估。該軟件無(wú)縫集成到標(biāo)準(zhǔn)軟件中,可以直觀地操作。該更新適用于以前?
供的所有T1, T2和TS系統(tǒng),包括激活粗糙度軟件選項(xiàng),測(cè)點(diǎn)半徑為2μm, 角度為60°的粗糙度測(cè)試臂以及綜合用
戶手冊(cè)。 T2系統(tǒng)必須在工廠進(jìn)行機(jī)械改裝。粗糙度選項(xiàng)包含在ConturoMatic TS-X的標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。
可評(píng)估的特征:
Pt, Pz, Pa, Pc, Pq, Pp, Pv, Psk, Pku, PSm, Pdq, Pmr(c)
Rt, Rz, Ra, Rc, Rq, Rp, Rv, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr(c), Rk, Rpk, Rvk,
Mr1, Mr2, RPc, Rmax (VDA 2006), R3z (DB Werksnorm)
Wt, Wz, Wa, Wc, Wq, Wp, Wv, Wsk, Wku, WSm, Wdq, Wmr(c)
Optional: Dominante Welligkeit nach VDA 2007
可選:根據(jù)DIN EN ISO 16610-31 (03/2017)
測(cè)試表面的應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn):
DIN EN ISO 4287:2010-07
DIN EN ISO 4288:1998-04
DIN EN ISO 16610-21:2013-06
DIN EN ISO 13565-1:1998-06
DIN EN ISO 13565-2:1998-06
DIN EN 10049:2014-03
DIN EN ISO 16610-31:2017-03 (Option)
VDA 2006:2003-07
VDA 2007:2007-02 (Option)
DB N 31007 (1983)
CS-陶瓷測(cè)針
測(cè)試對(duì)象和測(cè)量設(shè)備之間的連接 - 很大程度上未被關(guān)注,但仍具有重要意義:
滑動(dòng)摩擦,彎曲效應(yīng)和測(cè)點(diǎn)形狀是影響測(cè)量結(jié)果的主要因素。
問題:
探針和工件表面之間的滑動(dòng)摩擦在測(cè)量過(guò)程中引起彎曲效應(yīng)。盡管這種影響在很大程度上得到了糾正,但仍然
存在不可檢測(cè)的殘留誤差。更糟糕的是,測(cè)試的不同材料也會(huì)導(dǎo)致偏離彎曲。這些誤差無(wú)法通過(guò)合理的系統(tǒng)努
力予以糾正。正確方案是減少摩擦。
經(jīng)典測(cè)針:
輪廓測(cè)量?jī)x器的經(jīng)典測(cè)針的一個(gè)弱點(diǎn)是不明顯的*形狀。各種半徑的過(guò)渡意味著實(shí)際上僅有一點(diǎn)的測(cè)點(diǎn)半徑
滿足了要求。在軸外,不再定義*幾何形狀。
CS-Keramiktastspitzen:
我們的CS觸針大大減少了滑動(dòng)摩擦,彎曲和*形狀所?到的問題。我們的探針*由高性能陶瓷制成
的,摩擦系數(shù)比碳化物低很多倍。*幾何形狀可防止由于低定位誤差導(dǎo)致的錯(cuò)誤讀數(shù)。我們總的測(cè)量措施顯
著降低測(cè)量的不確定性。
優(yōu)化的*幾何形狀
方便精確定位
減少對(duì)不導(dǎo)電碳化物的摩擦
不可磁化
對(duì)積聚邊緣有抵抗力
在邊界區(qū)域中,測(cè)針更加安全地進(jìn)行測(cè)量
不變的測(cè)針形狀
測(cè)針幾何形狀非常精確
始終如一的高質(zhì)量產(chǎn)品
高科技材料
與傳統(tǒng)碳化物相比,減少50%的晶
粒尺寸
*的耐磨性和硬度
減少故障率
降低成本