ZM2372數(shù)字電橋LCR測量儀
ZM2371與ZM2372覆蓋了從1 mHz到100 kHz的測量頻率范圍，并擁有5位數(shù)的分辨率。ZM2376則覆蓋了從1 mHz到5.5 MHz的測量頻率范圍，并擁有6位數(shù)的分辨率。該產(chǎn)品不但適用于一般電子產(chǎn)品的測量，還可以被應(yīng)用于電池或其他材料的阻抗特性評估。
ZM2371與ZM2372覆蓋了從1 mHz到100 kHz的測量頻率范圍，并擁有5位數(shù)的分辨率。ZM2376則覆蓋了從1 mHz到5.5 MHz的測量頻率范圍，并擁有6位數(shù)的分辨率。該產(chǎn)品不但適用于一般電子產(chǎn)品的測量，還可以被應(yīng)用于電池或其他材料的阻抗特性評估。
 測量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測量儀ZM系列
實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量，可對應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途 |
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 | 偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例 |
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對1nF的電容反復(fù)測量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376，測量的再現(xiàn)性得到了進一步提高。 |
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 | ● 測量時間：5ms
● 測量頻率：100kHz
● 測量信號電平：1V |
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| 項目 | ZM2371 | ZM2372 | ZM2376 | | 測量參數(shù) | 主參數(shù)：｜Z｜、｜Y｜、 L、 C、 R、 G
副參數(shù)： Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc | | 測量頻率 | 1 mHz～100 kHz | 1 mHz～5.5 MHz | 基本精度 | 0.08 % | 測量信號電平 | 10mVrms～5Vrms、1μArms～200mArms | | 內(nèi)部DC偏置 | 0～+2.5V | 0～+5V | | 測量時間 | 1kHz | 最快2ms | | 1MHz | — | — | 最快2ms | 定電壓/
定電流驅(qū)動（ALC） | ○ | ○ | ○ | | 接觸檢測 | — | ○（4端子） | ○ | | 低電容檢測 | — | — | ○ | | 比較器 | ○（9分類） | ○（14分類） | ○（14分類） | | 復(fù)合測量 | — | — | ○（32步驟） | | 處理器接口 | — | ○ | ○
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 | 應(yīng)用 | |
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| 使用較長接線/溫度試驗箱的測量 |
| ZM系列具有抑制接線所造成影響的補償功能。在以下測量實例中，無論使用1m，2m還是4m的接線，測量結(jié)果都相差不大。在使用溫度試驗箱的測量中，測量儀器與被測物件的接線非常的細(xì)長，但是還是可以得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果。 |
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▲ 電感測量示例（電纜長度1m、2m、4m） |
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| 快速測量鋰離子電池的阻抗。 |  |
ZM2376的內(nèi)部DC偏置電壓最大可設(shè)置為+5V，因此可以測量電動勢超過3V的鋰離子電池（單電池）。
另外，可從1mHz的低頻率開始測量，因此可以對電池的內(nèi)部阻抗進行詳細(xì)評價。 |
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| ZM2371/ZM2372 附件 |
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| • 電源線組件 (3極, 2m) | 1 |
| • 使用說明書 | 1 |
| • CD (應(yīng)用軟件, LabVIEW驅(qū)動, 樣例程序) | 1 |
| ZM2376 附件 |
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| • 電源線組件 (3極, 2m) | 1 |
| • CD (應(yīng)用軟件, 樣例程序, IV測量儀驅(qū)動) | 1
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 | 寬頻測量范圍和高分辨率設(shè)定 |
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ZM2371與ZM2372覆蓋了從1 mHz到100 kHz的測量頻率范圍，并擁有5位數(shù)的分辨率。ZM2376則覆蓋了從1 mHz到5.5 MHz的測量頻率范圍，并擁有6位數(shù)的分辨率。該產(chǎn)品不但適用于一般電子產(chǎn)品的測量，還可以被應(yīng)用于電池或其他材料的阻抗特性評估。 |
| 高重復(fù)性的測量結(jié)果 |
| 針對放電的保護功能 |
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在使用通用的測量儀器時，儲存了電荷的電解電容器一旦被連接則會出現(xiàn)放電，而輸入電路就很可能會被損壞。ZM系列針對放電的保護功能，可以保護輸入電路不被此能量（最高達4J）損壞。所以在測量中若不小心連接上儲存了電荷的部件后，可以防止事故的發(fā)生。 |
| 廣域的測量電平和ALC功能 |
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對10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測量信號電平可進行3位數(shù)分辨率的設(shè)置。另外，利用ALC（自動電平控制）功能可以設(shè)置定電壓/定電流驅(qū)動，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅(qū)動信號來驅(qū)動，可實現(xiàn)高再現(xiàn)性的測量。 |
| 快速測量 |
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測量時間可以在RAP (Rapid)，F(xiàn)AST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級切換。選擇RAP，可以實現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量?？焖?、高精度的LCR測量儀有助于提高生產(chǎn)線及自動檢查裝置的測量效率。 |
| 高精度 |
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實現(xiàn)了基本精度0.08%、顯示分辨率最多6位數(shù)的高精度測量。值得信賴的測量在從最先端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選，對提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)*的。 |
| DC偏置電壓 |
ZM2371與ZM2372的內(nèi)置DC偏置電源為0~+2.5 V，ZM2376為0~+5 V。這一功能使得測量電解電容等具有極性元件成為了可能。使用ZM2376,可以以將電池的直流電壓相抵消的方式，測量阻抗。
另外，針對更大的DC電壓，還可以選購DC偏置適配器。使用外接DC電源，最高達±40 V的DC偏置電壓可以被施加到被測物體上，所以還可以測量大容量片式多層陶瓷電容的依賴性等。 |
| 直流電阻 (DCR) 測量 |
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可測量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻?？梢酝瑫r在主參數(shù)中顯示電感，在副參數(shù)中顯示直流電阻的測量值。 |
| 接觸檢查功能 |
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● ZM2372 4端子接觸檢查 為了防止因測量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測量或錯誤分選，ZM2372采用4個測量端子來進行接觸檢查判斷，由此排除不良產(chǎn)品。
（進行接觸檢查的額外時間 4ms)
 | 步驟1:
檢查點線之間是否接通
（接觸檢查） |  | | 接觸不良時做出不良判定 | | 步驟2:
步驟1的接觸檢查后，進行點線間測量（主測量） |
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● ZM2376 接觸檢查、低容量檢查 檢測異常的低容量及電壓、電流，無需額外時間就能檢測出不良接觸。
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| 觸發(fā)電路同步驅(qū)動 |
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可以只在接觸期間驅(qū)動試樣的功能。
可以降低在測量大容量電容時，由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時間內(nèi)進行測量履歷特性的試樣，測量值會出現(xiàn)較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅(qū)動的話，加在各試樣上的驅(qū)動信號和取得信號的時間以及相位關(guān)系都是固定的，可以抑制測量值的誤差，大幅縮短測量時間。 |
| 偏差顯示 |
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預(yù)先設(shè)置測量部件的顯示值，可顯示與預(yù)設(shè)值的偏差、偏差%。 可應(yīng)用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗等。 |
| 比較器 |
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主參數(shù)最大可分為14個*的BIN類別，在副參數(shù)中可以對設(shè)定好的1組上下限值的測量結(jié)果進行分選。測量值可通過偏差或偏差%進行分選，判定結(jié)果通過處理器接口*輸出。另外，根據(jù)判定結(jié)果，有時會發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠(yuǎn)程控制中，使用限值判定功能，也可以對主參數(shù)、副參數(shù)的上下限值（各1組）進行判定。
*ZM2371：最多分9類，未配備處理器接口。 |
| 復(fù)合測量 (ZM 2376) |
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復(fù)合測量是指對一個試樣最多可32個步驟的測量條件測量，綜合的進行合格判定的功能。可設(shè)定每個步驟的測量頻率、測量信號電平、內(nèi)部DC偏壓、測量參數(shù)等，對主參數(shù)的上下限值1組、副參數(shù)的上下限值1組進行測量和限值判定。
*ZM2376的功能。 |
| 接口 |
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標(biāo)配遠(yuǎn)程控制用的各種接口。無需追加選購件就可對應(yīng)生產(chǎn)線嵌入及自動檢查系統(tǒng)等。
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| 接口 | ZM2371 | ZM2372 | ZM2376 |
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| USB | ○ | ○ | ○ |
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| RS-232 | ○ | ○ | ○ |
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| GPIB | - | ○ | ○ |
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| LAN | - | - | ○（選購） |
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| 處理器 | - | ○ | ○ |
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| 其他功能 |
補正功能（開路補正，短路補正，負(fù)載補正，電纜線補正） 設(shè)置、補正值存儲（32組、保存在不揮發(fā)性儲存中、可切換） 電壓電流測量功能 應(yīng)用軟件（標(biāo)配） 樣板程序（） 標(biāo)配LabVIEW驅(qū)動＜ZM2371/ZM2372＞ IVI計測器驅(qū)動（在LabVIEW的系統(tǒng)上自動生成LabVIEW驅(qū)動）＜ZM2376＞
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化工儀器網(wǎng)
測量1 nF的電容
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