Equotip 550 Leeb D金屬硬度檢測(cè)儀硬度計(jì)

Equotip 550 是便攜式硬度檢測(cè)中功能*齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。 這將能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專(zhuān)家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 Equotip 裝置*眾多行業(yè)對(duì)無(wú)損硬度檢測(cè)的要求。

特色/應(yīng)用/標(biāo)準(zhǔn)化/技術(shù)數(shù)據(jù)

Equotip Leeb

• 根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
• 自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準(zhǔn)確度為 0.5%）
• 測(cè)量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿足絕大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。
• 每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準(zhǔn)確的硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

• 模塊化概念： 利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
• 組合法： 在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
• 引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量精度
• 自動(dòng)驗(yàn)證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證
• 互動(dòng)指南： 通過(guò)屏幕通知為您的應(yīng)用獲取相關(guān)的設(shè)置
• 轉(zhuǎn)換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線
• 自定義報(bào)告： 模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
• 自動(dòng)選項(xiàng)： 將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
• 外殼經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
• 高分辨率彩色顯示屏
• 電池使用時(shí)長(zhǎng) > 8h
• 8 GB 閃存
• 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機(jī)、USB 裝置和以太網(wǎng)
• 通過(guò)直接兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來(lái)保障投資
• 里氏回彈硬度檢測(cè)主要用于金屬測(cè)量，還可用于復(fù)合材料、橡膠和巖石檢測(cè)
• 適用于材料挑選、驗(yàn)收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測(cè)
• 適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
• 方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測(cè)場(chǎng)地

Proceq 提供一些附件，例如一個(gè)測(cè)量夾或幾個(gè)支撐腳，適合在各種測(cè)試件結(jié)構(gòu)上進(jìn)行手動(dòng)硬度測(cè)量

標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM A956 / E140 / A370
• ISO EN 16859（即將發(fā)布）
• DIN 50156
• GB/T 17394
• JB/T 9378

準(zhǔn)則

• ASME CRTD-91
• DGZfP Guideline MC 1
• VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
• Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

儀器

• 顯示屏 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
• 內(nèi)存 內(nèi)置 8 GB 閃存（可存儲(chǔ)多達(dá) 1000000 個(gè)測(cè)量值）
• 區(qū)域設(shè)置 公制和英制單位，支持多種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)
• 電池 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
• 電池使用時(shí)長(zhǎng) > 8h（標(biāo)準(zhǔn)操作模式下）
• 電源輸入 12 V +/-25 % / 1.5 A
• 重量（顯示裝置） 大約 1525 g（含電池）
• 尺寸 250 x 162 x 62 mm
• *高海拔 2500 m 海拔高度
• 濕度 < 95?%RH，非冷凝
• 操作溫度 0°C 至 30°C（32 至 86°F） （正在充電且儀器正在運(yùn)行）

               0°C 至 40°C（32 至 104°F）  （正在充電且儀器關(guān)閉）

              -10°C 至 50°C（14 至 122°F）  （未充電）

• 環(huán)境 適合室內(nèi)與室外使用
• IP 等級(jí) IP 54
• 污染等級(jí) 2
• 安裝類(lèi)別 2

Equotip Leeb 沖擊裝置

• 測(cè)量范圍 1-999 HL
• 測(cè)量精度 ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5 %）
• 分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
             0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
• 沖擊方向 自動(dòng)補(bǔ)償（DL 探頭除外）
• 沖擊能量 
• D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm
• DL 探頭為 11.1 Nmm
• C 探頭為 3.0 Nmm
• G 探頭為 90.0 Nmm

沖擊體質(zhì)量 

• D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司）
• DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司）
• C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司）
• G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）

球壓頭 

• C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
• DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸）
• G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸）
• S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
• E 探頭為多晶金剛石，直徑3.0 毫米（0.12 英寸）

操作溫度 –10?C 至 50?C（14 至 122°F）